高加速加压试验测试箱HAST Test用途介绍

高加速温湿度及偏压测试Highly Accelerated Stress Test具备75%～100%R.H非饱和蒸汽、高温、高湿、高气压等测试功能，一般以​130℃，85%R.H，1.1 VCC，Static bias，2.3 atm，的测试条件对半导体元器件、晶硅太阳能电池、磁性材料、IC芯片、PCB板、EVA、OLED等产品进行100hous以内的抵抗湿度能力和加速其失效过程，是检验产品的电离腐蚀与封装密封性。符合GB/T 2423.40-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx，使其快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，是提高试验效率与缩短产品试验周期的可靠性试验设备。

高加速加压试验测试箱HAST Test控制系统

1.微电脑饱和蒸气温度+时间LED显示器控制器, 压力+指针式显示表。

2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格：CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL。

3.控制对象：微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度。

4.控制方式：微电脑控制，可程序及定值设定，大1000组程序记忆，每组200段次、999循环次数。

5.温度控制精度：±0.5℃。

6.解析精度：±0.01℃/±0.1%R.H。

7.压力控制精度：±0.15KG。

高加速加压试验测试箱技术指标

1.温度范围: ＋105℃～＋135℃。

2.温度波动度: ±0.5℃。

3.温度均匀度: ±1.5℃。

4.湿度范围: 75%～100%R.H。（可范围内调节）

5.湿度波动度: ±1.5%R.H。

6.湿度均匀度: ±3.0%R.H。

7.压力范围：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

8.循环方式: 水蒸气自然对流循环。

9.测时间设置：0～999 Hr。

10.加压时间：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2约30分钟。

12.升温时间: 由常温升至＋132℃约30分钟非线性空载。

13.温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。

14.在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。

15.关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。

16.温湿度传感器设置于空调箱出风口处。

17.温湿度均匀度定义为：实验室几何中心点处，温湿度时的所测之资料。

18.以上数据性能，测量，计算方法参照GB5170.2、GB5170.5的方法测定。

19.hast试验箱型号及规格选择如下:

高加速加压试验测试箱执行与满足标准

1.MIL-STD810D方法502.2。

2.GJB150.9-8温湿试验。

3.LEC60068-2-66试验。

4.JESD22-A102-B试验。

5.JESD22-A110

6.GB/T2423.40-1997试验。

7.GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件。

8.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定湿热试验。

9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。