温度湿度偏压试验箱THB test
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ZK-HWS-408L温度湿度偏压试验箱THB test

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-05-21 19:20:03
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东莞中科测试设备有限公司

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产品简介

东莞中科测试设备制造的温度湿度偏压试验箱THB test,是通过相对湿度85%R.H、温度+85℃及1.1Vcc(静态)对半导体IC芯片封装进行1000小时的高温、高湿、高电压同步线性测试。其中可以在168小时和500小时停下来做高低温循环测试、冷热循环测试、温湿度循环测试、高低温交变测试等各种测试试验250次温湿度循环,其主要的试验目的是加入偏压激发铝金属的腐蚀,提供加速铝腐蚀所需电解作用。

详细介绍

温度湿度偏压试验箱THB test概述

1.Temperature Humidity Bias Test是通过温度30℃/60%R.H、30℃/85%R.H、60℃/60%R.H、85℃/60%R.H、85℃/85%R.H的相对湿度及1.1Vcc(静态)对半导体器件、IC芯片、集成电路、IC封装、CPU芯片进行1000小时的高温、高湿、高电压同步线性测试。其中可以在168小时和500小时停下来做高低温循环测试、冷热循环测试、温湿度循环测试、高低温交变测试等各种测试试验250次温湿度循环,其主要的试验目的是加入偏压激发铝金属的腐蚀,提供加速铝腐蚀所需电解作用。测试温度均匀度高达±0.3℃。

2.控制系统优势:中英文菜单式人机对话操作方式,有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能;实现工业自动化,带数据交互功能,能与客户主机链接实现远程监控,了解设备运行状态,可以通过任何移动终端监控。

 

温度湿度偏压试验箱THB test性能指标

1.温度范围:-40℃~+150℃;-50℃~+150℃;-60℃~+150℃;-70℃~+150℃。(高温可定制:+250℃)

2.湿度范围:20%~98%R.H。(可定制:5%~98%R.H或10%~98%R.H,满足温湿度同步线性测试。)

3.重点测试的温湿度点:30℃/60%R.H、30℃/85%R.H、60℃/60%R.H、85℃/60%R.H、85℃/85%R.H。

4.温度稳定度:±0.3℃。

5.温度均匀度:±1.5℃。

6.升温速率:3℃~4℃/min平均值。(可定制温变速率为:5℃/min;10℃/min;15℃/min20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变。)

7.降温速率:0.7℃~1℃/min平均值。(可定制温变速率为:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变。)

8.制冷系统:*压缩机及制冷配件模块化机组设计,方便日常维护与保养。

9.制冷方式:机械压缩单级制冷或二元复叠制冷(风冷或水冷)。

10.加热系统:进口SUS304#不锈钢鳍片式耐热、耐寒加热管,加热空气式控温。

11.节能方式:冷端PID调节(即加热不制冷,制冷不加热),比平衡调温方式节能30%。

12.标准配置:观测窗一个;LED视窗灯一支;保险管2支;物料架2套。

13.噪音处理:整机运行时≤60dB(*),满足万级高精无尘环境车间制备工艺需求。

14.前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

15.保护装置:压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。

16.电源:AC220V(三线制)±10% 或 AC380V(五线制)±5%。

17.温度湿度偏压试验箱可供选择的型号及规格如下:

 型 号          内箱尺寸(mm)          外箱尺寸(mm)

ZK-HWS -80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-HWS-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-HWS-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-HWS-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-HWS-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-HWS-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-HWS-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根据客户需求非标定制......

 

温度湿度偏压试验箱参考标准

1.JESD22-A101-D。

2.EIAJED- 4701-D122

3.MIT-STD-883E Method 1010.7。

4.JESD22-A104-A。

5.EIAJED- 4701-B-131。

6.MIT-STD-883E Method 1008.2。

7.JESD22-A103-A。

8.EIAJED- 4701-B111。

9.MIT-STD-883E Method 1005.8。

10.JESD22-A108-A。

11.EIAJED- 4701-D101。

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