TCT温度循环测试箱概述

1.TCT测试设备主要应用于半导体元器件、IC芯片、集成电路封装、晶片级集成电路、硅基半导体芯 片、碳基芯片等产品进行高低温测试、冷热循环测试、温度冲击测试、高温变老化测试，模拟集成电路在不同使用环境中的高低温电性能检测，测试温度精度高达±0.3℃。

2.控制系统优势：中英文菜单式人机对话操作方式，有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能；实现工业自动化，带数据交互功能，能与客户主机链接实现远程监控，了解设备运行状态，可以通过任何移动终端监控。

TCT温度循环测试箱性能指标

1.温度范围：-40℃～+150℃；-50℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。（高温可定制：+250℃）

2.试验测试温度范围：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+150℃、-65℃～+150℃。（可根据试验要求选择温度范围）

3.试验测试方式：高低温循环试验、冷热循环试验、高低温恒定试验、高低温交变试验、高低温储存试验、高低温操作试验。

4.温度稳定度：±0.3℃。

5.温度均匀度：±1.5℃。

6.升温速率：3℃～4℃/min平均值。（可定制温变速率为：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，线性与非线性温变。）

7.降温速率：0.7℃～1℃/min平均值。（可定制温变速率为：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，线性与非线性温变。）

8.制冷系统：*压缩机及制冷配件模块化机组设计，方便日常维护与保养。

9.制冷方式：机械压缩单级制冷或二元复叠制冷（风冷或水冷）。

10.加热系统：进口SUS304#不锈钢鳍片式耐热、耐寒加热管，加热空气式控温。

11.节能方式：冷端PID调节（即加热不制冷，制冷不加热），比平衡调温方式节能30%。

12.标准配置：观测窗一个；LED视窗灯一支；保险管2支；物料架2套。

13.噪音处理：整机运行时≤60dB（*），满足100万级无尘车间生产工艺需求。

14.前端空气经干燥过滤器处理，产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

15.保护装置：压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。

16.电源：AC220V(三线制）±10% 或 AC380V（五线制）±5%。

17.温度循环测试箱可供选择的型号及规格如下：

 型 号          内箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）

ZK-GDW -80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-GDW-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-GDW-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-GDW-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-GDW-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-GDW-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-GDW-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根据客户需求非标定制......

温度循环测试箱执行与满足标准

1.JESD22-A108-A。

2.EIAJED-4701-D101。

3.MIT-STD-883E Method 1005.8。

4.JESD22-A108-A。

5.EIAJED- 4701-D101

6.JESD22-A101-D

7.EIAJED-4701-D122。

8.JESD22-A110。

9.JESD22-A102。

10.EIAJED- 4701-B123。

11.MIT-STD-883E Method 1010.7。

12.JESD22-A104-A。

13.EIAJED- 4701-B-131。

14.MIT-STD-883E Method 1011.9。

15.JESD22-B106。

16.EIAJED- 4701-B-141。

17.MIT-STD-883E Method 1008.2。

18.JESD22-A103-A。

19.EIAJED- 4701-B111。