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TCT温度循环测试箱概述
1.TCT测试设备主要应用于半导体元器件、IC芯片、集成电路封装、晶片级集成电路、硅基半导体芯 片、碳基芯片等产品进行高低温测试、冷热循环测试、温度冲击测试、高温变老化测试,模拟集成电路在不同使用环境中的高低温电性能检测,测试温度精度高达±0.3℃。
2.控制系统优势:中英文菜单式人机对话操作方式,有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能;实现工业自动化,带数据交互功能,能与客户主机链接实现远程监控,了解设备运行状态,可以通过任何移动终端监控。
TCT温度循环测试箱性能指标
1.温度范围:-40℃~+150℃;-50℃~+150℃;-60℃~+150℃;-70℃~+150℃。(高温可定制:+250℃)
2.试验测试温度范围:-40℃~+85℃;-40℃~+120℃;-55℃~+150℃、-65℃~+150℃。(可根据试验要求选择温度范围)
3.试验测试方式:高低温循环试验、冷热循环试验、高低温恒定试验、高低温交变试验、高低温储存试验、高低温操作试验。
4.温度稳定度:±0.3℃。
5.温度均匀度:±1.5℃。
6.升温速率:3℃~4℃/min平均值。(可定制温变速率为:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变。)
7.降温速率:0.7℃~1℃/min平均值。(可定制温变速率为:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变。)
8.制冷系统:*压缩机及制冷配件模块化机组设计,方便日常维护与保养。
9.制冷方式:机械压缩单级制冷或二元复叠制冷(风冷或水冷)。
10.加热系统:进口SUS304#不锈钢鳍片式耐热、耐寒加热管,加热空气式控温。
11.节能方式:冷端PID调节(即加热不制冷,制冷不加热),比平衡调温方式节能30%。
12.标准配置:观测窗一个;LED视窗灯一支;保险管2支;物料架2套。
13.噪音处理:整机运行时≤60dB(*),满足100万级无尘车间生产工艺需求。
14.前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。
15.保护装置:压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。
16.电源:AC220V(三线制)±10% 或 AC380V(五线制)±5%。
17.温度循环测试箱可供选择的型号及规格如下:
型 号 内箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm)
ZK-GDW -80L W400×H500×D400 W1000×H1330×D850
ZK-GDW-120L W500×H600×D400 W1000×H1530×D850
ZK-GDW-150L W500×H600×D500 W1000×H1850×D950
ZK-GDW-225L W500×H750×D600 W1000×H1680×D1050
ZK-GDW-408L W600×H850×D800 W1100×H1780×D1250
ZK-GDW-800L W1000×H1000×D800 W1500×H1930×D1250
ZK-GDW-1000L W1000×H1000×D1000 W1500×H1930×D1450
根据客户需求非标定制......
温度循环测试箱执行与满足标准
1.JESD22-A108-A。
2.EIAJED-4701-D101。
3.MIT-STD-883E Method 1005.8。
4.JESD22-A108-A。
5.EIAJED- 4701-D101
6.JESD22-A101-D
7.EIAJED-4701-D122。
8.JESD22-A110。
9.JESD22-A102。
10.EIAJED- 4701-B123。
11.MIT-STD-883E Method 1010.7。
12.JESD22-A104-A。
13.EIAJED- 4701-B-131。
14.MIT-STD-883E Method 1011.9。
15.JESD22-B106。
16.EIAJED- 4701-B-141。
17.MIT-STD-883E Method 1008.2。
18.JESD22-A103-A。
19.EIAJED- 4701-B111。