>>薄膜、薄片厚度测试仪 简介 

       薄膜、薄片厚度的测定是薄膜、薄片物理性能检测的基本要素之一,薄膜、薄片的一些基本特性和强度性能与厚度有密切相关，它是一个重要的性能检测项目。HK-210型薄膜、薄片厚度测试仪是薄膜、薄片厚度测定的仪器，广泛适用于薄膜、薄片及其他片状材料的厚度测定。本厚度仪的结构和技术性能*符合GB/T 6672等标准要求,是薄膜、薄片生产、科研及商检等企业和部门*的常用仪器。 

>>薄膜、薄片厚度测试仪 标准 

GB/T 6672  《塑料薄膜和薄片厚度的测定 机械测量法》

ISO 534     《单层厚度的测定以及纸板紧度的计算方法》；

ISO 438     《层积厚度和紧度测定》。

>>薄膜、薄片厚度测试仪 参数 

Ø 测量范围：0-16mm

Ø 精度：0.001mm可选

Ø 示值误差：0.05%

Ø 接触面积：78.5±1mm²

Ø 接触压力：1N

Ø 平行度：≤0.005mm

Ø 工作环境：温度（20±10）℃，湿度＜85%

>>薄膜、薄片厚度测试仪 

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