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量身定制的物位测量解决方案 ,旨在提高效率、质量和安全性
一对一咨询帮助我们深入准确地理解您的需求;因此,我们能够帮助您选择zui合适您的应用的正确仪表。
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导波雷达适用于在存在泡沫的工况中测量,以及低介电常数值的介质测量
能够进行界面测量,带动态气相补偿功能,是旁通管应用的理想选择
即使在存在扰动和严重冷凝的工况下也能可靠工作
导波管应用的理想选择
的波束聚集效果
适用于 90% 应用场合
在扰动工况下进行高精度测量
高度聚集的 3° 波束角
zui大测量范围可达125米
zui高测量精度为0.5 mm(Micropilot NMR81)
雷达并非物位测量的*选择,不同的测量原理具备各自*的优势;因此,拥有不同测量原理的完整物位产品线能够让您的过程控制更上一层楼。我们为用户提供完整物位测量技术,包括音叉物位仪、超声波物位仪、电容物位仪、静压物位仪、放射线物位仪、重锤物位仪等。
国E+H雷达物位计\\E+H雷达液位计\\E+H液位计测量原理调频连续波雷达物位计在测量过程中应用了按照线性变化的高频信号,雷达物位计的信号从天线发出,在被测量平面反射,回波被天线接收。雷达物位计信号的发出与回波接收的频率差被用于进一步的信号处理,频率差对应于测量距离。一个大的频率差应对于一个较大的测量距离。通过FFT频率差被转化为频谱差,进而换算出测量距离。物位与测量距离的差别取决于空罐的高度。
发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使工况比较复杂的情况下,存在虚假回波,用的微处理技术和调试软件也可以准确的分析出物位的回波。输入天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路,微处理器对此信号进行处理,识别出微脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成,精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比:D=C×T/2 、其中C为光速、因空罐的距离E已知,则物位L为:L=E-D输出、通过输入空罐高度E(=零点),满罐高度F(=满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4-20mA输出。