热流仪

热流仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-10-31 08:47:59
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东莞市伟煌试验设备有限公司

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产品简介

本设备适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

详细介绍

工作原理:

1,试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

2,可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快;

外形尺寸:

W(宽)790mm*H(高)1600mm*D(深)1080mm

温馨提示:外部尺寸请依设计确认三视图为准!

工作模式:

A)2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带2套1拖8 系统

B) 2种检测模式 Air Mode DUT Mode

 测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)

制冷方式:采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统,温度可达-70℃

试品:

带2套1拖8 系统,金属封装PCB板模块8片;

前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

满足试验标准:

1.GB/T 2423.1-2008     试验A:低温试验方法;

2.GB/T 2423.2-2008     试验B:高温试验方法;

3.GB/T2423.22-2012     试验N: 温度变化试验方法

4. GJB/150.3-2009       高温试验

5. GJB/150.4-2009      低温试验          

6. GJB/150.5-2009      温度冲击试验


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