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Buehler标乐样品磨制系统MPC2000的技术参数
1. 材料去除自动控制精度:2微米;
2. 磨盘转速:1~50转/分
3. 磨制情况观察:200倍观察器;
4. 适用材料:微电子元件、金属材料、陶瓷、矿物、复合物等;
5. 磨盘和制备表面;精密玻璃盘、金刚石磨料薄膜;
6. 附件包括;SEM和TEM卡具,样品磨制后无需喷金,可直接进行TEM实验;
7. 其它性能,请参看该系统详细资料。
Buehler标乐样品磨制系统MPC2000的主要特点
可使操作者有效的控制所需的材料的去除量,同时还能随时的无需取下样品即可观察样品的磨制情况,从而有效的提高工作的精确性和效率。