I试片

定量品质 (I) 试片是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片，用以确定磁场方向和相应磁场强度， 亦可用于平衡多向磁场，将磁化次数降至zui少，以提高生产效率。

件号及包装形式
519630      
人工缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。   标准 #KSC-230

519631      
与KSC-230相似，于工件上的小区域，每片上四个圆，可切割开，单独使用。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。   小型 I试片 #KSC-4-230

519632      
用于定量要求更高的作业，人工缺陷呈三个不同深度的同心圆环。缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%， 40%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。   不同深度的 #KSCT-234

521048      
人工缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.04英寸 (1.02毫米)。   标准 #KSC-430

521049      
用于定量要求更高的作业，人工缺陷呈三个不同深度的同心圆环。缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%，40%，试片厚度为0.004英寸(0.10毫米)。   不同深度的 #KSC4-234