美国CalMetrics镀层测厚仪锡校正片

品牌： Calmetrics      产地：美国      型号：Ni-P / XX

美国CalMetrics镀层测厚仪锡校正片(standard)，标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证，都是美国原厂制作标准片的专业认证公司。

特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好、价格实惠。

       奔蓝科技昆山分公司是美国Calmetrics国内一级代理商，附有美国Calmetrics公司颁发的代理证书。测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

以下是美国CalMetrics镀层测厚仪锡校正片部分规格（可根据您的要求特别订制）：

锡(Sn/XX) 14种常用规格：

 吴生：151九零一九4078   136零二五五1959

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