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HVB4000 Alpha-A/分析测试仪
HVB4000 Alpha-A/分析测试仪
测试接口扩展了模块化测量系统。对于介电、电导或阻抗测量,α-主机必须与至少一个额外的测试接口相结合。
所有测试接口都通过内部数字和电源总线连接到主机上。主机自动检测所连接的测试接口并相应地调整其功能。
除G22外,所有测试接口都支持自动基准电容测量,并且适合介质和导电样品,但适合特殊应用。
阿尔法-A主机独立和所有接口,除了HVB支持两个通道,高精度的频率响应或增益相位测量。
介电、电导、阻抗和增益相位光谱通用接口
ZGS通用接口双电极测量。ZGS具有与ZG 2相同的功能,但集成在一个活跃的平行平板样品单元中,以便与NovoControl温度控制系统一起使用。
特别*用于在平行平板电极(如聚合物、半导体、玻璃、液体或不具有高离子导电性(电极极化)的粉末或液体)之间制备的介电或导电样品。
准确和直接的解决方案,平行板电极配置。规范适用于电池电极位置。
ZG2通用接口二线测量将介质或导电材料样品与NovoControlBDS 1200无源平行平板样品单元或客户制作的样品单元和电子元件组合使用。
ZG4具有与ZG2相同功能的通用接口。此外3和4线测量对于高阻抗的1TΩ\\10 pF差动电压输入是支持的。
特别*
介电、电导和阻抗光谱用高压界面
HVB 300, HVB 1000和HVB 4000直流和/或交流电压幅值分别为±150 VP、±500 VP和±2000 VP。
特别*用于高交流电压和/或直流电压的电介质、半导体或电子元件
用于电化学阻抗、电导率、介电和增益相位光谱的大电流界面
大麻/GA15V-10A和罐/加仑30V-2A大电流接口具有恒电位和恒电流直流偏置控制功能的电化学阻抗谱EIS。特别*
增益相位接口
G22用于高精度频率响应的通用接口增益相位测量。测量振幅和相移V1高-V1低层和V2高-V2低层两个电压通道。类似于双输入通道锁定放大器的功能,提高了精度.
不能用于元件或材料的阻抗测量。
应用:
介电、电导、阻抗谱和材料分析
电化学阻抗谱EIS
(特别是与α-电化学测试接口)广义阻抗分析