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开关按键打击寿命试验机电子元器件的可靠性测试方法和要求与电子设备的可靠性试验方法和要求是不*一样的。对电子元器件的可靠性测试来说,既包含有模拟现场使用条件的—般失效率试验,又包含有大应力强度的加速寿命试验,而对电子设备而言,则是指模拟现场工作条件和环境条件而进行的可靠性测试。 本机器可测试NATEBOOK(手机、PDA)之按键及各种按钮、开关之耐久寿命试验。可同时测试数个产品,每个产品均可多点测试(另每个按键可以设定不同压力及不同高低)。
开关按键打击寿命试验机规格说明:
测试速度:1-6回/秒 速度可调;
测试压力:MAX:5KG;测试头荷重:0.5KG 、1KG、2KG、5KG可任选;
上下行程:10mm;测试台上下移动量:80*80mm;
测试台尺寸:50mm;
冲击运动方式:上下压缩机构采直线轴承运动,定位精准;
导电测试:按键破坏不导电时自动停机装置;
计数器:可设8位数:9999999次自动停机;
按触警示灯:测头与金属簧片接触警示;
电机:进口电机;控制系统:微电脑控制;电压:220V;
规格说明:
测试速度:1-6回/秒 速度可调;
测试压力:MAX:5KG;测试头荷重:0.5KG 、1KG、2KG、5KG可任选;
上下行程:10mm;测试台上下移动量:80*80mm;
测试台尺寸:50mm;
冲击运动方式:上下压缩机构采直线轴承运动,定位精准;
导电测试:按键破坏不导电时自动停机装置;
计数器:可设8位数:9999999次自动停机;
按触警示灯:测头与金属簧片接触警示;
电机:进口电机;控制系统:微电脑控制;电压:220V;
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元器件种类 | 测试项目 |
片式电阻 | R |
金膜电阻 | R |
陶瓷电容 | C、DF、ESR、DCL |
铝电解电容 | C、DF、ESR、DCL |
薄膜电容 | C、DF、ESR、DCL |
瓷片电容 | C、DF、ESR、DCL |
钽电容 | C、DF、ESR、DCL |
高分子电容 | C、DF、ESR、DCL |
电感 | L、DCR |
磁珠 | Rdc、|Z| |
变压器 | L、DCR |
晶体 | FL,C0,RR,DLD2,RLD,Ts,SPRR,PWR |
晶振 | RR,DLD2,SPRR |
MOS管 | V(BR)DSS、VGS(th)、IDSS、IGSS、Rdson |
二三极管 | 二极管:VF、IR |
三极管:VCEO、VEBO、ICBO、IEBO | |
整流桥 | VF、IR |
LED&数码管 | VR、IR、VF |
保险管 | R |
热敏电阻 | R |
压敏电阻 | C,漏电流,击穿电压 |
TVS | 漏电流,压敏电压
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