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高低温冲击应力筛选测试箱对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。改变了传统进行温度循环、高低温冲击(两箱)、高低温+常温冲击(三箱)、应力筛选ESS,至少需要购买四台设备的状况。让您摆脱以往需添购很多种设备才能完成的试验,需耗费许多添购设备&占用空间的硬件成本, 一次解决您的需求,满足不同产品不同试验的多样性与多变性,提高机台使用的稼动率。并且不需再依不同待测品去耗费时间手动调整,我们的创新系统自动帮您搞定,庆声秉持着符合规范的原则,结合贴心的创新功能与技术,期待您详细了解。
高低温冲击应力筛选测试箱特点:
1、可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能;
2、可执行慢速温度循环[3~5℃/min]符合IEC60068-2、应力筛选ESS[5~15℃/min]符合JESD22、快速温变[15~30℃/min](40℃/min)、冷热冲击四种不同设备的温变试验Laboratory Class;
3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求;
4、待测品自动负载调整免手动设定预冷预热,可依据待测品负载量系统自动调整。
5、精灵快捷键 人性化快速进入选单高低温常温冲击 ;
6、超低除霜次数 高低温常温冲击(3 Zoon)100Cycle免除霜,缩短试验时间与能耗。
7、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行;
9、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能;
10、感测器放置测试区出(回)风口赛思设计符合实验有效性;
11、机台多处报警监测,配置无线远程报警功能;
测试规范:
标准:满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。
产品&规范 | 厂商名称 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环时间 | 备注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90电子产品应力筛选 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选 | 设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选方法 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到温度10℃时 |
NABMAT-9492美军*制造筛选 | 设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到温度5℃时 |
GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选指南 | 组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 达到温度稳定的时间 |
GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选指南 | 设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 达到温度稳定的时间 |
笔记本电脑 | 主板厂商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
技术规格:
型号
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SER-A
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SER-B
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SER-C
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SER-D
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内箱尺寸
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40×35×35
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50×50×40
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60×50×50
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70×60×60
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外箱尺寸
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140×165×165
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150×200×175
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160×225×185
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170×260×193
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预冷、预热范围
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-00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃
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应力冲击范围
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-10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃
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时间设定范围
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0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment
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分辨率
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0.01℃/min
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温度均匀度
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±3.00℃以内(under℃3.00℃)
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温度应力变化范围
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+5℃~+30℃/min(+40℃)
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冲击试验温度
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-65℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃)
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三箱冲击温度范围
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-55℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃) |