高低温冲击ESS试验箱-东莞市赛思检测设备有限公司手机版

详细介绍

高低温冲击ESS试验箱赛思改变了传统进行温度循环、高低温冲击(2 Zoon)、高低温+常温冲击(3 Zoon)、应力筛选ESS，至少需要购买四台设备的状况。让您摆脱以往需添购很多种设备才能完成的试验，需耗费许多添购设备&占用空间的硬件成本，一次解决您的需求，满足不同产品不同试验的多样性与多变性，提高机台使用的稼动率。并且不需再依不同待测品去耗费时间手动调整，我们的创新系统自动帮您搞定，赛思秉持着符合规范的原则，结合贴心的创新功能与技术，期待您详细了解。

高低温冲击ESS试验箱特点：

1.可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；2.等均温速率可设定范围5℃～30℃/min(40℃/min)；3.满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求； 4.采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；5.除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成；6.通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；7.感测器放置测试区出（回）风口符合实验有效性；8.机台多处报警监测，配置无线远程报警功能；

技术创新：

传统设备低温控制方式：制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）制冷压缩机恒定运行+加热PID控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）新型PWM冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM技术控制调节制冷机组制冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。该技术基于美国Sporlan公司定制型号的PWM控制阀：

该技术通过电磁阀的频繁动作实现对各管道流量的调节，标准电磁阀不能适应，会在很短时间出现金属疲劳损坏，目前支持该技术的高性能阀门只有美国Sporlan公司生产的XM系列产品（该产品无法从正常渠道进口），下图为电磁阀的区别。

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验
	28℃/min→	LED汽车照明灯
	25℃/min→	PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应
	24℃/min→	光纤连接头
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技术的温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、汽车引擎盖下环境)
	11℃/min→	无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试
	5℃/min→	锡须温度循环试验

型号：

型号	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
内箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
温度范围	-80.00℃～+200.00℃
低温冲击范围	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高温冲击范围	+60.00℃～+150.00℃
时间设定范围	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
温度波动度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
温度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
温度均匀度	＜2.00℃以内
温变速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
温变范围	-55℃～+85℃//+125℃

产品简介

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