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供应日本共立接地电阻测试仪KEW 4106
面议供应日本共立绝缘电阻测试仪KEW3431/3432/3441/3442
面议供应日本共立绝缘电阻测试仪KEW3125A/3025A
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面议供应日本共立多功能测试仪MODEL 6010B
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面议供应日本共立多功能测试仪MODEL 6010A
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面议供应日本共立多功能测试仪KEW 6016
面议供应日本日置阻抗分析仪IM7581* 供应日本日置阻抗分析仪IM7581*
测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
测量频率 | 100 kMHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进) |
测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
测量时间 | zui快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |