高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的更好解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统

本设备适用标准

1 、GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的*方法

2 、GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

3 、ASTM-D150-介电常数测试方法

4、 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

5、916（数显）介电常数ε_r和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一）  

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

 6、主要测试材料：绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等