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蔡康全自动清洁度分析仪
清洁度检测系统CCM-200C(全自动清洁度分析仪) |
一:蔡康清洁度检测仪概述和微孔滤膜法测定清洁度: |
A.蔡康CCM-200C普通型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸,通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小,与CCM-100C型的清洁度检测系统的差别在CCM-200C型是智能型,可以通过电脑任何控制平台,因此对于需要精确计算机控制的可以采用CCM-200C,而一般清洁度要求不是非常高的,如检测zui大颗粒,或者颗粒较大而且数量不多可以采用CCM-100C手动型。 蔡康清洁度检测系统的特点: 1)光学系统采用平行光系统,视场范围大,景深宽,设计考虑到防尘,防油,防水,防霉,日常维护少。 2)蔡康清洁度检测系统可以直接连接计算机,直接在计算机上进行操控,观察,测量。 3)本系统可采取动态测量,颗粒轮廓动态显示,定制化数据报告,图文并茂。 |
清洁度检测仪CCM-300C |
B.清洁前准备工作(清洗与称重): 1)引用标准:IS0/16232、VDA/19、ISO4406/4407、GB/T 3821-2005《中小功率内燃机清洁度测定方法》 2)使用设备:10L不锈钢压力罐、真空压力泵、喷枪、砂芯抽滤瓶、电热鼓风干燥箱、通风柜、电子天平(0.1mg) 3)化学清洗剂:NY120溶剂油、无水乙醇、95%乙醇、蒸馏水或脱矿物质水、AP760等; 4)过滤膜:依据所选用清洗溶剂不同,常用的滤膜材质有:尼龙膜(NYL)、聚四氟乙烯膜(PTFE)、混合纤维素脂膜(MCE)、聚碳酸酯膜(PC)等;0.45μm——用于初始溶剂过滤及喷枪管路溶剂过滤;5、8、10、20μm——用于清洗后颗粒过滤; 5)操作步骤: 先将浸泡过的空白滤膜放入培养皿中烘箱内,烘干后置于干燥皿中自然冷却称重,zui后记录空白滤膜及培养皿的重量。 清洁度检测工作包括抽样、解体、清洗、过滤、烘干、分析等内容,工作程序如下图所示。 |
(1)清洗:将工件置于清洗槽上方,将烧杯的接收器置于洗槽漏斗下方,收集所有的清洗液。打开通风装置及加压装置,手持喷枪开始对工件位置进行清洗(清洗过程应避免清洗液溅出槽外)。使用完毕后,继续开喷枪将罐内剩余清洗液全部压出 (2)过滤:将滤膜放在滤杯与砂芯之间夹紧,将待过滤的溶剂倒入滤杯内。过滤应尽可能抽干清洗液,以减少烘干恒重时间,同时防止膜面残留挥发性清洗液过多而导致烘干时发生危险。 (3)烘干:将滤膜连同滤出的杂质一起放入培养皿中,放入烘箱内烘干,结束后置于干燥皿中自然冷却后称重两次。 (4)称量:将经过烘干冷却的带有杂质滤膜的培养皿放在天平上称量,读数精确到 0.1mg;解体过程中的收集的异物也需进行称重。过滤后的滤膜与空白滤膜的重量差即为工件杂质重量。 (5)清洁度分析:将待检滤膜使用滤膜夹具置于电动平台上,依据相关检测标准中要求的颗粒大小,选用适合的放大倍率及检测标准。设定扫描区域后,系统自动进行滤膜扫描拼图,并依据标准对颗粒进行自动分析统计,集成的报告工具自动生成基于标准或客户模板的标准文档。 备注(显微颗粒计数法):ISO/16232、VDA/19标准中关于显微颗粒计数法做相关的介绍说明。首先先来一起了解相关显微计数法的基本原理:依据ISO/16232标准中所规定的方法,对从测试部件上清洗颗粒所用的清洗液在滤膜过滤器上进行过滤,然后用显微技术对分离的颗粒进行计数和粒度分析。 |
二:蔡康清洁度检测仪CCM-200C仪器系统图: |
蔡康普通型清洁度检测仪CCM-200C(电动型) |
三:蔡康清洁度检测仪特点和参数指标
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1)蔡康清洁度检测仪特点: ●通过数字摄像机可以在计算机显示器上直接观察、测量颗粒,准确测定非金属、金属颗粒的大小 ●能同时将金属颗粒的反光区和阴影区合并测量 ●鼠标引导测量(鼠标移动相应颗粒),自动给出测量数据 ●对于测试颗粒分类汇总 ●任意排版的图文混编的报告输出 ●颗粒范围:3微米—5000微米 ●滤纸:25/47/50/100 2)整体性能指标: 放大倍率:7.5X—350X 颗粒范围:3微米—5000微米 滤纸:25/47/50/100 标准配置 ○ 清洁度测量显微镜 ○ 环形冷光源 ○ 电动控制平台(滤纸托盘选购) ○ 高清像素高速工业数字摄像机 ○ 0.05mm 物镜测微尺 ○ 0.1mm 目镜测微尺(如果带目视则选购) ○ 蔡康DC-3000清洁度测试分析软件 ○ 计算机(选购) ○ 打印机(选购) |
四:蔡康DC-3000清洁度图像分析系统功能介绍 |
蔡康清洁度DC-3000图像分析系统主界面 |
1)图像采集:人工设置载物台运行轨迹;软件在该轨迹下控制载物台运动,每移动一个视场,软件自动采集一张图像; |