VIEW Pinnacle 250特点

 

特征：
- 测量范围：250 x 150 x 100 mm
- 25公斤承载力
- 亚微米的光栅尺分辨率
- X-Y无阻力线性马达驱动，平台速度400 mm/秒
- Z轴DC伺服回转马达驱动，100 mm/秒
- 误差映射：在XY平面非线性二维纠错
- 双重放大光学系统，固定镜头，内部放大1-4倍
- 可编程LED平台背光及同轴表面光照明
- 可编程多色环形灯(PRL)选项
- TTL激光选项，具有自动聚焦和扫描功能
- SpectraProbeTM 高分辨率彩色传感器选项
- *的图像处理性能，快速、精确、稳健
- 双通道，数字式，1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
- 次像素精度： 1/10 - 1/50 pixel
- 独立的Anthro Cart Operator工作站
- 强大的测量软件和数据分析工具可供选择
- 平均*工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时
的应用范围包括：
半导体/电子
BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die
引线框，引线接合，柔性线路板，连接器
SMT元件贴装
锡膏/环氧数脂胶点
芯片载体和托盒
喷墨打印机墨盒
光纤组件和MEMs
数据存储
悬置件
滑块和悬臂组(HGA)
磁盘介质基板
精密注塑和机加工件
模具和刀具
医疗设备
燃料喷射部件
手表组件