OmniScan X3-奥林巴斯超声波相控阵探伤仪OmniScan X3-北京新兴日祥科技发展有限公司手机版

创新点

OmniScan X3探伤仪除了继承以往系列仪器可靠、便利、防水、防尘等优点外，在图像质量方面取得了长足的进步。针对形状复杂工件的检测难点，OmniScan X3通过使用64晶片孔径支持的全聚焦方式（TFM），让用户可以获得工件各部分更清晰的图像，并可以将这些进行图像融合，生成正确反映工件的几何形状，使得用户可以对使用常规相控阵技术获得的缺陷特性进行验证，有效改进了以前对于缺陷图像“解读难”的问题。TFM重建模式大像素为1024×1024，可以同时动态呈现4个TFM视图。新加入的16比特A扫描、插值和平滑等功能以及10.6英寸的WXGA显示屏，都使图像更加清晰可见，使得检测人员的工作更加直观、准确。

产品简介

奥林巴斯超声波相控阵探伤仪OmniScan X3是一款功能齐备的相控阵工具箱。这款仪器所提供的性能强大的工具，如：全聚焦方式（TFM）图像和高级成像功能，可使用户更加充满信心地完成检测。
*创新的全聚焦方式（TFM）
更好的缺陷成像性能，可以更清晰地显示微小的缺陷
可为早期的高温氢致（HTHA）缺陷成像，
以在关键的早期探测到这种缺陷

详细介绍

奥林巴斯超声波相控阵探伤仪OmniScan X3

信心满满，昭然可见

OmniScan X3是一款功能齐备的相控阵工具箱。这款仪器所提供的性能强大的工具，如：全聚焦方式（TFM）图像和高级成像功能，可使用户更加充满信心地完成检测。

改进的相控阵技术

速度是OmniScan MX2探伤仪的2倍（脉冲重复频率）
单独的衍射时差（TOFD）菜单，加快了工作流程
改进的快速相控阵校准，使用户享有更轻松的操作体验
800%的高波幅范围，减少了重新扫查的需要
机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能，加速了创建设置的过程

奥林巴斯超声波相控阵探伤仪OmniScan X3

迅速地投入到检测工作中

机载扫查计划、改进的快速校准和简化的用户界面，有助于省去一些不必要的步骤，从而可使用户在很短的时间内完成检测的设置工作。

如果您是OmniScan MX2仪器的用户，您可以从现有的仪器迅速地过渡到OmniScan X3仪器。如果您还不太了解相控阵超声检测或全聚焦方式（TFM），您可以通过OmniScan X3探伤仪轻松地学习这些知识。

性能可靠，令人信赖

符合IP65评级标准，防雨防尘机载GPS，
可提供采集数据的位置
可通过无线方式连接到奥林巴斯科学云系统，以下载新的软件
得益于25 GB的文件容量，仪器可以无需停歇，持续扫查。

检测团队中的主力成员

OmniScan X3探伤仪所提供的功能有助于用户高效地完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手：焊缝检测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷（HTHA）的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测和缺陷成像。

与现有的探头和扫查器相兼容
32:128PR型号，提供64晶片的全聚焦方式（TFM）功能
还提供16:64PR和16:128PR型号
多8个声束组，1024个聚焦法则
与OmniScan MX2/SX仪器的文件相兼容，方便了用户转换到新仪器的操作
64 GB的内置存储容量，还可以借助外置USB驱动盘扩展存储容量

新一代OmniScan带给您更美好的体验

OmniScan X3仪器的软件性能强大，其简洁、现代的菜单结构减少了按键的次数，改进了从开始设置到后制作报告的整个检测过程，因此无论新老用户都会得心应手地使用这款仪器。

实时全聚焦方式（TFM）包络处理

仪器*的包络处理功能，可以为缺陷生成高清全聚焦方式（TFM）图像。图中的缺陷在背景噪声的衬托下，显得更为清晰鲜明。

屏幕上多可显示4种模式的全聚焦方式（TFM）图像，有助于缺陷的解读和定量

在同一个检测中使用不同的全聚焦方式（TFM）模式（声波组），使检测人员更有希望探测到方向异常的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以多同时显示4种模式的全聚焦方式（TFM）图像，从而使用户看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征，如：端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面，可被综合在一起进行分析，从而可以确认缺陷的类型，并提高缺陷定量的性能。

提前确认覆盖区域