一、产品简介：

C84-III反射率测定仪是**涂层检测仪器，可用于漆膜遮盖力的测定。

全符合标准ISO3906-1980(E)、**标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的规定要求。

反射率测定仪结构原理  反射率测定仪结构原理

二、注意事项：
1、为保证测量精度，测量环境温度应接近25°C。仪器应经常校准，允许偏差为±0.3，若大于0.3需要新校准。
2、为克服硅光电池的光照疲劳现象，在测试的间隙时间内应将探头放在黑色标准板上面。减少插头的拔插次数，以免损坏插头，造成接触不良。
3、白色标准版应远离污染，否则会影响测量精度。如有污渍可用**绘图橡皮除净。
4、试样的制备应严格依照相关的**标准GB9271-88的规定进行。

三、技术参数：
★测量范围   0~100
★重复精度    0.3%
★显示数据与反射光强度成正比
★仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积
★环境温度   20°±5°  相对湿度<85%
★输入电源   220V±10%  50Hz
★外形尺寸：180X210X470mm
★  重量：7kg

四、工作原理：
本仪器由探头、主体、标准板（黑白各一块）、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。 

探头采用0°照射，漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示（详见光路原理图及仪器框图）。
 

五、使用方法：
★把探头与电控箱连接，同时接上电源，开机预热10-15分钟。此时应把探头放在黑色标准板上为佳。
★校零：把探头放在白色标准板上，调整主机上的校零旋钮，使主机数字显示为000.0，允许变动±0.1.
★校正标准值：把探头放在白色标准板上，调整主机的校标旋钮，使主机显示的数值与白色标准板的标定一致。允许变动±0.1反复调整一次（校零、校标）。
★测量RB值：把探头移至放有试样的黑色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为RB值。
★测量RW值：把探头移至放有试样的白色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为RW值。
★计算求得对比率  对比率（遮盖率）= RB/RW ×a