激光粒度分析仪

TS-W1激光粒度分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-05-16 19:20:03
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上海群弘仪器设备有限公司

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产品简介

激光粒度分析仪 本仪器符合但并不局限于以下标准:

ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

详细介绍

激光粒度分析仪 ​概述:

 随着科学技术的日益进步和发展,在国民经济的许多部门,如能源、动力、机械、医药、化工、轻工、冶金、建材等行业中都出现了越来越多的细微颗粒密切相关的技术问题有待解决,颗粒粒径大小的测量是其中基本也是重要的一个方面。许多情况下,颗粒粒径大小不仅直接影响到产品的性能与质量,而且对工艺过程的优化、能源消耗的降低、环境污染的减少等都有重大的关联。 近年来,与*、国防工业、军事科学等密切相关的各种新型颗粒材料,特别是超细纳米颗粒的问世和利用,给颗粒粒径的测量提出了新的和更高的要求,不但要求快速、自动化数据处理、而且也要求提供可靠的更丰富的数据和更有用的信息,以满足科研领域和工业质量控制方面应用的需要。TS-W系列激光粒度分析仪正是为了满足用户上述新要求而精心研制开发的一代激光粒度分析仪。该仪器集*激光技术、半导体技术、光电技术、微电子技术和计算机技术的应用,综合了光、机、电、计算机于一体,以光散射理论为基础的颗粒粒径测量技术突出的优点逐步取代了一些传统的常规测量方法,必将成为一代新颖的颗粒粒径测量仪器。并且在科研领域和工业质量控制的粒度分布分析中发挥着越来越大的作用。

TS-W系列激光粒度分析仪的高品质和所测样品的广泛性使得它在实验室的实验研究和工业生产的质量控制等诸多领域中得到了广泛的应用。例如:材料、化工、制药、精细陶瓷、建材、石油、电力、冶金、食品、化妆品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高岭土、氧化物、碳酸盐、金属粉末、耐火材料、添加剂等以颗粒物作为生产原材料、产品、中间体等。

激光粒度分析仪 ​技术特点:

13. 软件提供众多物质折射率供用户选择,满足用户查找被测颗粒折射率要求;

14. 考虑到测试结果的保密要求,只有*操作者才能进入相应数据库读取数据和处理;

15. 本仪器符合但并不局限于以下标准:

ISO 13320-2009     G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

 

技术参数:

工作条件:

配置清单:

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