PCT高压加速寿命老化试验箱

高压加速老化试验箱厂家外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业容器标准，可防止试验中结露滴水设计。圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。

PCT高压加速寿命老化试验箱

PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

特点优势：

1.**优化设计,美观大方，做工精细。

2.采用大容量水箱,试验时间长,不中断。

3.采用日本“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制稳定特点（依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。

4. PCT加速老化试验箱的水路配电盘分离，确保设备稳定可靠安全。

5.采用高效真空泵，使箱内达到**纯净饱和蒸汽状态。 
6.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法及功能显示。