PCT高压加速寿命加老化测试试验箱产品应用:PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

PCT高压加速寿命加老化测试试验箱
a   型号：PCT—45L
b   内箱尺寸：450x500mm圆形内箱，符合工业标准
c   外箱尺寸：700x650x850mm(W、H、D）
d    容量：       35kg

参数：
a   温度范围： 100℃~+132 ℃
b   温度波动度:±0.5℃           
c   温度偏差：±1.5 ℃        
e   湿度范围：100%RH（饱和蒸气）
f   湿 度波动度：±2.0%RH
j   加压时间：40分钟 +132 ℃
h   循环方式：水蒸气对流循环

四高温高压材质：
a  外箱材质：高级不锈钢
b  内箱材质：SUS316#不锈钢
c   箱体保温材质：高级超细玻璃棉
d   单门圆门：门把手在右、内箱压力愈大时，会有反压使其与箱体更紧密结合，与传统挤

压*不同，可延长packing寿命。

五高温高压蒸煮仪安全保护：

a   试验箱可调试高温保护
b   压力限制保护
c   缺水报*保护
d   温度加热器保护
e   漏电漏水保护（设置报*）
f   手动泄压保护，自动泄压保护
j   切断电源