IC半导体通电测试用什么温度的高低温试验箱IC半导体温度测试要求一般在低温40°到高温150°产品没有特殊要求就可以了，产品有特殊要求除外，一般半导体还需要做高压加速老化试验箱，测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，高温高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，测试后，通过高压加速老化寿命试验机检定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。

二、IC半导体通电测试用什么温度的高低温试验箱简介：
1、外胆均采用优质(t=1mm)A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。
2、内胆采用进口高级不锈钢(SUS304)镜面板。
3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm
4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流   垂直扩散循环。
5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭

供应工业高低温测试箱|温湿度交变试验箱

不锈钢高低温试验箱（-40~+150℃）高低温交变试验箱满足试验标准：
☆GB10586-89湿热试验箱技术条件
☆GB10586-89低温试验箱技术条件
☆GB/T10592-89 高低温试验箱技术条件
☆GB10592-89 高低温试验箱技术条件
☆GB11158 高温试验箱技术条件
☆GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法
☆GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程 试验A：高温试验方法
☆GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程试验Ca恒定湿热试验方法
☆GB/T2423.4-93 交变湿热试验方法
☆GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法
☆IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
☆IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法
    可程式恒温恒湿试验箱
不锈钢高低温试验箱（-40~+150℃）高低温交变试验箱控温系统
☆温度控制仪表采用进口触摸屏，可编程微电脑PID控制SSR输出运行，全进口超大液晶彩色触摸屏幕画面，荧幕操作简单，程式编辑容易，可连接电脑操作；
☆精度：0.1℃(显示范围)；解析度：±0.1℃；
☆感温传感器：PT100铂金电阻测温体；
☆控制方式：热平衡调温调湿方式；
☆具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定；
☆控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示；
☆具有100组程式、每组100段、每段可循环999步骤的容量，每段时间设定大值为99小时59分；
☆资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机；
☆具有RS-232或RS-485远程通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能。