开关表面阻值,带打印回路仪

开关表面阻值,带打印回路仪

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2022-06-12 21:20:03
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江苏久益电力设备有限公司

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产品简介

开关表面阻值,带打印回路仪适用于测试高低压开关的主触头接触电阻值,高低压电缆线路的直流电阻值等。智能回路电阻测试仪采用100A恒流输出。高输出电压达10V(常规仪器的2-3倍)可采用载面细的测试线,大大减轻了现场测试人员的劳动强度。测试过程全部由单片控制自动实施,精度高,复测性好,单按键操作,简单易行,测试数据液晶显示,结果打印。适用于不同的工作环境。

详细介绍

开关表面阻值,带打印回路仪

使用方法

  1. 电源

  本仪器为测试提供的电源的两种:AC220V/DC12V。在强电磁场干扰的情况下,建议使用直流电源测试,此状态下测试的数值稳定,抗工频*力强。

  A、直流电源测试:

  闭合总电源开关(DC12V),相应有指示灯亮,闭合总电源开关,相应的指示灯亮,按下“启停”键,即可进行测试。测试完毕,关闭总电源开关(DC12V),相应的指示灯熄灭,放电后,再转换测试夹,进行再次测试。

  B、交流电源测试:

  接上交流AC220V电源,相应的指示灯亮,闭合总电源开关,相应的指示灯亮,按下“启停”键,即可进行测试。测试完毕,关闭总电源开关(AC220V),相应的指示灯灭,放电后,再转换测试夹,进行再次测试。

  C、充电:

  接上交流AC220V电源,此充电指示灯亮,表示正在对机内的可充电池进行充电工作。仪器在使用交流电源测试,同时也在对机内电池进行充电。(仪器设计了充电保护电路,不会有过充现象产生)。

  2. 测试线的联接方法:

  将仪器的I+、V+、V-、I-端子与被试品联接好。这种联接法,可消除A、B、C、D处的接触电阻,以及联线电阻对测量的影响。测量的值即为B、C、之间的电阻Rx (注意:B、C之间不要反向)。在使用中,如果仪器随带的测试线长度不够,可使用直径相当的导线将测试线加长。

  3. 测量:

  仪器在回路未接好的情况下开机表头显示“E0000”。接好测量线后,根据被测值的大小选定欲测的电阻档,按下该档开关,此时该档指示灯亮,四位半LCD显示的稳定值即为被测的电阻值。读值时请注意所选量程上的单位。在测量大电感试品如电力变压器时,在测试回路以外的其它不需测量的线圈将其短路,以免电磁干扰。

  4. 放电:

  测试完毕后可直接关断总电源。如果在感性试品,关断电源后不应马上拆线操作,应让仪器有续放电过程。一般放电至少20秒,否则电感的反电动势危害人身安全。

 

 

 

开关表面阻值,带打印回路仪

功能特点

1、320×240液晶显示器、高速热敏打印机。

2、本仪器具有体积小、重量轻、抗*力强、精度高、操作方便、保护功能完善等特点。

3、采用电源技术,能长时间连续输出大电流,灵活选用50A,100A,150A,200A四个电流档位。

4、使用了精密仪用运算放大器和高精度四重积分A/D转换器,结合高性能16位单片机,测量时系统根据信号大小自动切换放大倍数,确保了该产品的测试准确度。

5、本产品还设计了实时日历时钟,为打印、保存数据提供时间依据。

6、数据存储与历史数据浏览功能,可存储200组数据,并具有掉电保护功能。

7、超宽量程,测量大范围达到0-4mΩ。

8、人机对话全键盘操作方式,智能化工作全过程。

 

 

开关表面阻值,带打印回路仪

问题研讨
低电

考虑到接触件膜层在高接触压力下会发生机械击穿或在高电压、大电流下会发生电击穿。对某些小体积的连接器设计的接触压力相当小,使用场合仅为mV或m*,膜层电阻不易被击穿,可能影响电信号的传输。故标GJB1217-91电连接器试验方法中规定了两种试验方法。即低电平接触电阻试验方法和接触电阻试验方法。其中低电平接触电阻试验目的是评定接触件在加上不能改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化簿膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。所加开路试验电压不超过20mV,而试验电流应限制在100mA,在这一电平下的性能足以满足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。而接触电阻试验目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻,而此规定电流要比前者大得多,通常规定为1A。

单孔分离力

为确保接触件插合接触可靠,保持稳定的正压力是关键。正压力是接触压力的一种直接指标,明显影响接触电阻。但鉴于接触件插合状态的正压力很难测量,故一般用测量插合状态的接触件由静止变为运动的单孔分离力来表征插针与插孔正在接触。通常电连接器技术条件规定的分离力要求是用实验方法确定的,其理论值可用下式表达。

F=FN·μ

式中FN为正压力,μ为摩擦系数。

由于分离力受正压力和摩擦系数两者制约。故决不能认为分离力大,就正压力大接触可靠。现随着接触件制作精度和表面镀层质量的提高,将分离力控制在一个恰当的水平上即可保证接触可靠。作者在实践中发现,单孔分离力过小,在受振动冲击载荷时有可能造成信号瞬断。用测单孔分离力评定接触可靠性比测接触电阻有效。因为在实际检验中接触电阻件很少出现不合格,单孔分离力偏低超差的插孔,测量接触电阻往往仍合格。

3)检验

在许多实际使用场合,汽车、摩托车、火车、动力机械、自动化仪器以及航空、航天、船舶等连接器,往往都是在动态振动环境下使用。实验证明仅用检验静态接触电阻是否合格,并不能保证动态环境下使用接触可靠。往往接触电阻合格的连接器在进行振动、冲击、离心等模拟环境试验时仍出现瞬间断电现象。故对一些高可靠性要求的连接器,许多设计员都提出能对其进行动态振动试验来考核接触可靠性。日本耐可公司推出了一种与导通仪配套使用的小型台式电动振动台,已成功地应用于许多民用线束的接触可靠性检验。

 

 

影响因素

主要受接触件材料、正压力、表面状态、使用电压和电流等因素影响。

1)接触件材料

电连接器技术条件对不同材质制作的同规格插配接触件,规定了不同的接触电阻考核指标。如小圆形快速分离耐环境电连接器总规范GJB101-86规定,直径为1mm的插配接触件接触电阻,铜合金≤5mΩ,铁合金≤15mΩ。

2)正压力

接触件的正压力是指彼此接触的表面产生并垂直于接触表面的力。随正压力增加,接触微点数量及面积也逐渐增加,同时接触微点从弹性变形过渡到塑性变形。由于集中电阻逐渐减小,而使接触电阻降低。接触正压力主要取决于接触件的几何形状和材料性能。

3)表面状态

接触件表面一是由于尘埃、松香、油污等在接点表面机械附着沉积形成的较松散的表膜,这层表膜由于带有微粒物质极易嵌藏在接触表面的微观凹坑处,使接触面积缩小,接触电阻增大,且极不稳定。二是由于物理吸附及化学吸附所形成的污染膜,对金属表面主要是化学吸附,它是在物理吸附后伴随电子迁移而产生的。故对一些高可靠性要求的产品,如航天用电连接器必须要有洁净的装配生产环境条件,完善的清洗工艺及必要的结构密封措施,使用单位必须要有良好的贮存和使用操作环境条件。

4)使用电压

使用电压达到一定阈值,会使接触件膜层被击穿,而使接触电阻迅速下降。但由于热效应加速了膜层附近区域的化学反应,对膜层有一定的修复作用。于是阻值呈现非线性。在阈值电压附近,电压降的微小波动会引起电流可能二十倍或几十倍范围内变化。使接触电阻发生很大变化,不了解这种非线性变化,就会在测试和使用接触件时产生错误。

5)电流

当电流超过一定值时,接触件界面微小点处通电后产生的焦耳热作用而使金属软化或熔化,会对集中电阻产生影响,随之降低接触电阻。

 

 

测量

除用毫欧计外,也可用伏-安计法,安培-电位计法。

在连接微弱信号电路中,设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。因为接触表面会附有氧化层,油污或其他污染物,两接触件表面会产生膜层电阻。由于膜层为不良导体,随膜层厚度增加,接触电阻会迅速增大。膜层在高的接触压力下会机械击穿,或在高电压、大电流下会发生电击穿。但对某些小型连接器设计的接触压力很小,工作电流电压仅为mA和mV级,膜层电阻不易被击穿,接触电阻增大可能影响电信号的传输。

在GB5095"电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法"中的接触电阻测试方法之一,"接触电阻-毫伏法" 规定,为防止接触件上膜层被击穿,测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV,交流或直流的测试中电流应不大于100mA。

在GJB1217"电连接器试验方法"中规定有"低电平接触电阻" 和"接触电阻"两种试验方法。其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。所加开路试验电压不超过20mV,试验电流应限制在100mA。在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻。通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。如军标GJB101"小圆形快速分离耐环境电连接器总规范"中规定;测量时电流为1A,接触对串联后,测量每对接触对的电压降,取其平均值换算成接触电阻值。

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25371 [{"ID":"725250","CompanyID":"63365","Title":"电压表和电流表都是根据一个原理进行作业的","Picture":"","PictureDomain":"","UpdateTime":"2024/5/6 7:12:35","CreateTime":"2024/5/6 7:12:35","ClassName":"技术交流","rn":"3"},{"ID":"670719","CompanyID":"53679","Title":"现代仪器仪表技术发展战略详细分析","Picture":"mt0016/3/20100926/634211198793593750.jpg","PictureDomain":"img43","UpdateTime":"2023/10/9 14:29:46","CreateTime":"2023/9/14 7:35:27","ClassName":"技术交流","rn":"4"}]