holmarc CCD Based Constant Deviation Spectrometer 基于CCD的恒定偏差光谱仪（用于电弧发射和吸收测量）使用CCD成像代替照相卤化银胶片。由于在加工过程中没有消耗品和障碍物，因此很难在教室中进行基于卤化银膜的光谱实验。CCD光谱成像是一个及时的解决方案。数据采集​​既简单又快速。由于大多数商业光谱仪都基于数字成像，因此学生可以了解光谱学的xin趋势。

实验范例

    为了测量KMnO 4的吸收带的波长并计算其哈特曼常数。

通常在增加波长的方向上测量光谱线的位置。常数d取决于刻度设置，C取决于光谱范围，并且对于仪器而言是常数。为了确定这些常数，我们采用标准谱图的三条突出显示线和方程式，

A =（λ 2 - λ 1）/（λ 3 - λ 1）

B =（d 2 – d 1）/（d 3 – d 1）

C = [（λ 2 - λ 1）（d 0 - d 1）（d 0 - 2）] /（d 2 - d 1）

d 0     =（B d 3 -A d 2）/（B-A）

λ 0     =（Aλ 3 - Bλ 2）/（A-B）

其中，A，B，C，λ 0，d 0被称为哈特曼的常数。
使用这些哈特曼常数，我们可以将吸收带波长计算为

λ=λ 0 + [C /（d 0 - d）]

    在铜，铁和黄铜的发射光谱中找到突出线的波长

电弧光谱的相应线的波长可以使用以下公式计算：

λ=λ 0 + [C /（d 0 - d）]

技术指标

    设计：恒定偏差120 F

    棱镜类型：佩林·布罗卡（N-SF1）

    折光率：1.7

    波长范围：380-680nm

    分辨率：0.1纳米

    输入：微米控制的狭缝

相机规格

    CCD传感器：线传感器

    像素数：3648

    像素大小：800 x 200微米

    ADC分辨率：16位

    曝光时间范围：0.1ms-6,500ms

    帧率：每秒高达138次扫描

    介面：USB 2.0

    兼容性：Windows 7或更高版本

特征

    现代，用户友好和精确的设计

    可以观察到发射光谱和吸收光谱

    CCD成像系统

    高品质的光学元件可产生清晰清晰的光谱

holmarc CCD Based Constant Deviation Spectrometer