产品简介
光致发光光谱测试系统可以测量半导体材料或其他发光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些复合薄膜等)在激光激发下的光致发光谱,进而分析材料能带等特征,是材料研究和半导体研究*的测试设备。
详细介绍
该系统可以测量半导体材料或其他发光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些复合薄膜等)在激光激发下的光致发光谱,进而分析材料能带等特征,是材料研究和半导体研究*的测试设备。
技术指标
- 光谱范围:200-2500nm (可根据实际需要选择)
- 波长准确度:±0.2nm
- 光谱分辨率:±0.1nm
- 光谱带宽:0.2-10nm 可调
- 光源波长:224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm等