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SF6动态离子分析仪 型号:CN61M/HEAD3020
库号：M372185
SF6动态离子分析仪CN61M/HEAD3020更多信息>>>
midwest-group
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SF6动态离子分析仪 （HEAD3020）
产品简介
工作原理
1 HEAD3020动态离子分析仪TEIMS的工作原理是根据离子飘移的波谱测量技术（Ion Mobility Spectrometry）。这技术能测量微少SF6气体的污染物含量和局部放电所产生足够数量的腐蚀性物质的含量；也能检测到极其少量的微水形成腐蚀性物质及有毒物质的含量，更能放置于一台便于携带及耐用可靠的仪器中，能让维修人员在设备现场实施检测并得到测量结果。
2 不同的化合物分子经过离子产生源（局部放电）后，所产生的离子之流动性有所不同（因质量和几何形状等原因），所测量到的离子漂移时间也不同。污染物使离子群的相互作用力不同， 从而导致漂移时间峰值刻度位置也相应不同。所以，峰值的漂移，可用于开关中SF6气体的纯度检测，得到一个与SF6中杂质数量相对应的直观的信号。
3 仪器HEAD3020先将所测量气体样本离子化，测量离子于特定的电场内飘移的速度，得出相关的波谱，再跟纯净气体的波谱比较，得出峰值的相差。仪器根据峰值的相差，便能计算出气体中污染物的总含量。
应用特点
1 电力公司、高电压变电站、发电厂。
2 安装可接于所有现时通用的阀门。
3 操作简单，机动性高，可*监视GIS、GIT。等气室的SF6绝缘品质。能收到有关于SF6气体情
况以及开关工作可靠性的信息，并可及时判断气体污染情况，在造成开关的故障和严重损坏之前
排除隐忧。
4 量化SF6气体内污染物的含量（0.5-5，000ppm）。
5 测量水分的含量（单位：DP或ppm）。
6 通过内置的压力传感器，可监控密闭空间内的压力。
7 测量局放及其过去记录（即使小于1pc）。
8 到预防故障的维修策略。
9 极少的气体消耗量（每次300-500ml）。
10 快速得到测试结果（10秒内）。
主要功能
1 直接动态监控SF6的纯度，并能显示测量SF6内污染物的总含量（0.5–5，000 ppmv）。
2 可探测气体绝缘空间中小于1PC的电子放电。
3 实现SF6填充空间预防故障的检查及维修策略。
4 通过分析周期趋势曲线防止开关失效。
5 透过内置的压力传感器，可动态检测并显示监控密闭空间内的压力。
6 通过露点测量得到SF6中的微水含量。
7 快速得到测试结果（少于10秒）。
8 极少的气体消耗量（每次约300ml）。
技术参数
1 电源：115／230V AC，50-60HZ
2 功率：60W
3 信号：0-10V
4 触发：0-10V
5 重量：11Kg
6 尺寸：185×340×320mm
7 压力：zui大14bar（1400kpa）
8 流量：2L／h
9 一次测量消耗气体（10次质谱）：约300ml
10、产品保修一年，终生维护
中西集团
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历史资料:2010-12-03版本
