技术参数
技术参数：
压力范围：
- UHV（超高真空）至500bar（可订制到2000 bar）
- 真空至1.3 bar

温度范围：
- -196℃~350℃
- -60℃~250℃
通过热解耦样品温度可达2000℃

分辨率：
- 0.01mg至1μg

重复性（标准偏差）：
- ±0.02mg至±2μg

相对误差：
- ≤测量值的0.002%

zui大可称量：
- 80g或10g


技术文章
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主要特点
磁悬浮天平的精确度高于常规天平人工测量所能达到的精确度。这一结果来自对自由悬浮状态的*控制、悬浮耦合进样的精巧耦合及解耦，以及天平的零点调节和校准，后者可产生小数点后两位重复的测量精确性，这一结果世界，尤其进行*测量的时候。

仪器介绍
磁悬浮天平可极其精确的测量可控条件（压力，温度，环境等）下作用于样品的力和质量变化。这类测量使我们可能迅速、精确地确定传送量和状态量（吸附、散射、表面张力、密度），以研究化学反应（腐蚀，降解，高温分解等）、调查生产技术（聚合，涂布，干燥等）。

除基础研究和材料测试之外，此类测量也用于设计和优化多种工业操作。例如：
吸附测定：
- 废气净化
- 土壤解毒
- 食物生产
- 天然气和氢的存储和/或净化
- 超临界液体萃取

热重分析
- 煤炭气化
- 垃圾焚化
- 材料合成

密度测定：
- 测量流体的密度，特别是高温高压条件下

粘度测定：
- 测量流体的密度，特别是高温高压条件下

使用我们的磁悬浮天平，几乎可以在任何测量条件下进行无接触的样品重量分析。待测量样品不是直接悬于天平（常规的重量分析仪器），而是连接在一个”悬浮磁体”上。一个附在天平底板的测量环上的电磁石通过一个电子控制单元维持悬浮磁体的自由悬浮状态。利用这个磁悬浮耦合，测量力无接触的从测量室传递到位于测量室外部的微量天平。因此，这种装置几乎消除了常规的重量分析仪器不可避免的所有的限制，这种极其精确、直接测量的方法在各种科学研究开发领域中的广泛应用变得可能和明显。