Werth*家将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，工业CT断层扫描测量机可实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。此工业CT断层扫描测量机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。

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主要特点：
◆  *家将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量
◆  可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探  针、光纤、激光等）
◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现zui  高精度的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机*并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快 
◆  Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆  Werth公司技术的栅格断层扫描技术：
        精密测量微小部件
        扫描更大尺寸工件，提高分辨率
        扩展测量范围
◆  测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量
◆  测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆  选用广泛应用的WinWerth软件 (德国*PTB长度标准认证) ，界面友好，操作简单
◆  可使用*拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆  广泛应用于复杂尺寸测量，*评估，逆向工程，质量控制等

应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等

技术参数：

1). 依据标准ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP测量或CT传感器选择同等及更高精度探针修正或光学传感器选用同等及更高精度探针修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg

X射线穿透能力：
 Werth*的用于高精度、高分辨率测量的穿透型标靶射线源。此标靶在高管电压（如300KV）和大管电流的情况下能够长时间稳定地保持微米级的焦点尺寸，这样就能用微米级焦点的X射线快速的高精度、高分辨率进行测量高密度（如钢）较大尺寸的零件。

      高精度工业CT的复合测量，特别是在金属、陶瓷、复合材料的测量具有很大的优势，我们也可提供付费测量服务，具体可咨询我们销售。

 应用实例：