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Trimos NANO-D*测长机
Trimos NANO-D*测长机与NONO测长机同样采用与德国Heidenhain 合作定制的zui高精度新型光栅测量系统，光栅尺长350毫米，大范围内可测量。基座采用特种材料铸造，仪器稳定可靠，自动测量，速度快、精度高，可有效消除手动操作误差。
与Nano测长机主要区别就是精度稍微没这么高，价格也更优惠。
计量室用于检定校准各种量检具如：量块、光面（螺纹）环塞规、光滑锥度环塞规、螺纹锥度环塞规、轴承内外滚道、花键量规、卡规、校准杆、尺类、表类。
LABC-Nano-D全自动*测长机主要特点：
◆测量范围 350 mm
◆光栅尺长度 350 mm
◆ zui高分辨率 0.001μm
◆ 测量精度 0.085 +[L(mm) / 2000]μm
◆ 测量力 0 -12N 连续可调
◆ 头座移动（X）CNC全自动
◆ Heidenhainzui高精度新型光栅测量系统
◆内置温补探头，实时补偿 。
LABC-NANO-D技术参数： | |||
型 号 | LABC-NANO-D350 | LABC-NANO-D600 | LABC-NANO-D1100 |
测量范围（光栅尺长度） | 350 mm | 350mm | 350 mm |
应用范围 | 0-350 mm | 0-600 mm | 0-1100 mm |
测量不确定度 | 0.085 + L(mm) / 2000μm | ||
zui大分辨率 | 0.001μm | ||
重复性(2S) | 0.04μm | ||
测量力 | 0 -12N（软件连续可调） | ||
测量头移动速度 | 50mm/s | ||
测量系统 | Heidenhainzui高精度玻璃光栅测量系统 | ||
显示单元 | 液晶电脑屏幕显示：标准DELL电脑（触摸屏可选） | ||
温度补偿 | 自动 | ||
工作台 | Y、Z轴手动（自动可选） | ||
工作台Z轴测量范围 | 100mm | ||
工作台Y 轴测量范围 | 50mm | ||
工作台面浮动范围 | ±10mm | ||
Y旋转角度 | ±2度 | ||
Z 旋转角度 | ±4度 | ||
操作温度 | +15℃~35℃ | ||
存储温度 | -10℃~50℃ | ||
采用与德国Heidenhain 合作定制的zui高精度新型光栅测量系统，光栅尺长350毫米，大范围内可测量。基座采用特种材料铸造，仪器稳定可靠，自动测量，速度快、精度高，可有效消除手动操作误差。计量室用于检定校准各种量检具如：量块、光面（螺纹）环塞规、光滑锥度环塞规、螺纹锥度环塞规、轴承内外滚道、花键量规、卡规、校准杆、尺类、表类。
LABC-Nano-D全自动*测长机主要特点：
◆测量范围 350 mm
◆光栅尺长度 350 mm
◆ zui高分辨率 0.001μm
◆ 测量精度 0.085 +[L(mm) / 2000]μm
◆ 测量力 0 -12N 连续可调
◆ 头座移动（X）CNC全自动
◆ Heidenhainzui高精度新型光栅测量系统
◆内置温补探头，实时补偿 。
LABC-NANO-D技术参数： | |||
型 号 | LABC-NANO-D350 | LABC-NANO-D600 | LABC-NANO-D1100 |
测量范围（光栅尺长度） | 350 mm | 350mm | 350 mm |
应用范围 | 0-350 mm | 0-600 mm | 0-1100 mm |
测量不确定度 | 0.085 + L(mm) / 2000μm | ||
zui大分辨率 | 0.001μm | ||
重复性(2S) | 0.04μm | ||
测量力 | 0 -12N（软件连续可调） | ||
测量头移动速度 | 50mm/s | ||
测量系统 | Heidenhainzui高精度玻璃光栅测量系统 | ||
显示单元 | 液晶电脑屏幕显示：标准DELL电脑（触摸屏可选） | ||
温度补偿 | 自动 | ||
工作台 | Y、Z轴手动（自动可选） | ||
工作台Z轴测量范围 | 100mm | ||
工作台Y 轴测量范围 | 50mm | ||
工作台面浮动范围 | ±10mm | ||
Y旋转角度 | ±2度 | ||
Z 旋转角度 | ±4度 | ||
操作温度 | +15℃~35℃ | ||
存储温度 | -10℃~50℃ | ||
