美国OLYMPUS   38DL PLUS测厚仪是一款开创*声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可*地适用于几乎所有*声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其的壁厚测量。 

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   美国OLYMPUS   38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

美国OLYMPUS  38DL PLUS*声测厚仪主要特性：

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• 可与双晶和单晶探头兼容。 
• 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。 
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。 
• 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。 
• 内部氧化层/沉积物软件选项。 
• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。 
• 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。 
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。 
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。 
• 厚度、声速和渡越时间测量。 
• 差分模式和缩减率模式。 
• 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。 
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。 
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 
• 设计符合EN15317标准。

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