IC pcu芯片检测 工业X光焊点检测设备

IC pcu芯片检测 工业X光焊点检测设备

可移动箱式无损检测仪,是一款CCD成像系统,釆用0.3微焦X射线装置的无损检测设备.广泛应用于工厂的电子产品、电子配件、连接器、接扦件、线材的质量检测。可检测产品的内部结构是否有损坏、检测内部的图形结构,产品是否合格，是电子产品质量检测的设备。可穿透金属、非金属、塑料、电子配件等.仪器箱体小, 重量轻,可移动作业,使用方便；射线剂量低,防护安全、可靠；高灵敏度,高空间分辨率的CCD影像系统.给您崭新的视觉效果。

技术参数

1、视场:Φ100mm (50/75/100mm供用户选择 )        

2、分辨率：36Ip/cm；           

3、输出屏亮度：〉25cd/cm²  ；

4、大间距：240mm；         

5、管电压：60-75kv；           

6、管靶流：0.15-0.35mA；

7、对比度：4%；              

8、灰度：7级；               

9、电源：220VA

X射线发射角度 ±12°

​外形尺寸：710x530x350mm

重量:80kg

10. X射线泄漏量(与铅箱相距5cm 处任何位置上))

<1.u Gy/h