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Keithley2600B 系列 SourceMeter SMU 源表
Keithley2600B 系列 SourceMeter SMU 源表
2600B系列系统数字源表源测量单元(SMU)仪表是业界电流/电压源 与测量解决方案,它是利用吉时利第三代源测量单元(SMU)技术建造的。2600B 系列产品包括单通道和双通道型号,集成了高精密电源、真正电流源、6位半数字多用表(DMM)、任意波形发生器、脉冲发生器以及电子负载等功能——这些功能都在一个高度集成的仪器机箱内。这是一个功能强大的解决方案,大大提高了从台式 I/V特性分析道高度自动化生产测试等各种应用中的测试效率。对于台式应用,2600B系列数字源表内置基于Java的测试软件,支持即插即用I/V测试,可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。对于自动化系统应用,2600B系列数字源表的测试脚本处理器(TSP),可以运行仪器内存储的完整测试程序,实现业界吞吐量。在更大型的多通道应用中,吉时利的TSP-Link技术与TSP协同工作,实现了高度、SMU-per-pin并行测试。由于2600B系列数字源表源测量单元(SMU)仪表具有不需要主机的、*隔离的通道,因此,可以根据测试应用需求的进展,很容易进行重新配置和重新部署。
基于Java的即插即用I/V测试软件
2600B系列数字源表内置基于Java测试软件的源测量单元(SMU)仪表, 支持真正的即插即用I/V特性分析,可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。这个*功能提高了研发、教育和QA/FA等各种应用的测试效率。只需通过附送的 LAN电缆,将2600B数字源表连接至互联网,打开浏览器,输入2600B的IP低至,即可开始测试。测试结果可以下载之电子数据表(如Excel),供进一步的分析和格式化,或者导入其他文档或演示文稿。
采用TSP技术,提供的吞吐量,适合自动测试
对于需要高自动化和吞吐量级别的测试应用来说,2600B数字源表的TSP技术提供了业界性能。TSP技术远远超越传统的测试命令序列……它*嵌入,然后,在源测量单元(SMU)仪器内部执行完整的测试程序。这实际上避免了所 有耗时的总线-PC控制器之间的通信,因此,大幅缩短整个测试时间。
通过TSP-Link技术,实现SMU-Per-Pin并行测试
TSP-Link是通道扩展总线,支持多 个2600B系列数字源表互连,成为一个单 一、严格同步的多通道系统。2600B的 TSP-Link技术与其TSP技术协同工作,支 持高速、SMU-per-pin并行测试。与大型 自动测试设备系统等其他高速解决方案 不同的是,2600B在无需主机成本或负担 情况下,实现了并行测试性能。基于TSP -Link技术的系统,还支持出众的灵活性, 可以根据测试需求的变化,迅速而容易 地对系统进行重新配置。
2400型软件仿真
2600B系列数字源表,与为吉时利2400 型数字源表源测量单元(SMU)仪表开发的测试代码兼容。这使得基于2400型数字源 表的测试系统更容易地升级至2600B系列, 并使测试速度提高高达80%。此外,它还提供了从SCPI编程转到吉时利TSP技术的过渡路径,实施后,可以进一步缩短测试时间。
为了全面支持遗留的测试系统,在这个模式下,还*支持2400型源存储清单测试序列。
第三代SMU设计,确保实现更快的测试时间
在早期2600系列仪器成熟的架构基础 上,2600B系列的源测量单元(SMU) 仪表设计从几个方面提高了测试速度。例 如,早期的设计采用的是并联电流量程调 节结构,而2600 B系列 的串联量程调节结构,这种结构具有更快 更平滑的量程变换过程和稳定速度更快的 输出。
2600B系列数字源表源测量单元 (SMU)仪表设计支持对各种负载使用 两种操作模式。在普通模式下,源测 量单元(SMU)仪表为大吞吐量提供 高带宽性能。在高电容模式下,源测 量单元(SMU)仪表使用较慢的带宽, 为较高电容负载提供鲁棒的性能。
简化半导体元件测试、验证与分析
可选配的ACS Basic版本软件实现了客户效率的大化,使客户可以在开发、质量认证或故障分析中,对封装器件进行特性分析。主要特性包括:
欲了解有关ACS Basic版本软件的更多信息,参见ACS Basic版本数据表。
强大的软件工具
除了基于Java的嵌入式即插即用软 件以及可选配的ACS Basic版本软件,免 费Test Script Builder软件工具,可以 帮助用户创建、修改、调试和存储TSP测 试脚本。图1给出2600B系列数字源表软 件工具的主要特性。
2600B系列产品3个型号的双通道 台式数字源表,提供业界的价值 和性能
如果想调试设计问题,首先必须知道存在问题。每个设计工程师都要用大量的时间查找电路中的问题,如果没有合适的调试工具,这项任务耗时长、非常麻烦。
为了满足那些不需要系统级自 动化能力的应用需求,吉时利对2600B系 列数字源表进行了扩展,推出3中的 高性价比台式型号产品——2604B、2614B和 2634B。这些型号产品性能分别与2602B、 2612B和2636B相似,但它们不包括TSP Link、接触检查以及数字I/O能力。
完整的自动化系统解决方案
吉时利S500综合测试系统是基于仪 器的、可高度配置的系统,适合器件、 晶圆或晶圆盒的半导体特性分析。S500 综合测试系统基于已被证明的2600系列 系统数字源表源测量单元(SMU),提供 创新的测量特性与系统灵活性,可以根据需求进行升级。其*的测量能力, 再加上强大而灵活的自动特性分析套 件(ACS)软件,为客户提供全面的应用 范围和特性,这是市场上竞争产品所不具备的。
技术指标适用的条件
本文介绍了2601B、2602B和2604B系统数字源表的技术指标和补充说明。这些技术 指标是测试2601B、2602B和2604B依据的标准。在出厂时,2601B、2602B和2604B 符合这些技术指标。补充说明和典型值不在质保范围内,适用于23°C,仅用作有 效信息。
精确技术指标适用于普通模式和高电容模式。
这些源和测量精度在下列条件下适用于数字源表CHANNEL A(2601B、2602B和2604B)或数字源表CHANNEL B(2602B和2604B)终端。
1. 23°C ±5°C,相对湿度<70%
2. 经过2小时的预热
3. 普通速度(1 NPLC)
4. 启用A/D自动调零
5. 远端检测操作或适当的归零局部操作
6. 校准周期=1年
源技术指标
电压源技术指标
电压编程精度1
量程 | 编程分辨率 | 精度(1年) 23°C ±5°C ±(% rdg. + 伏特数) | 典型噪声 (峰-峰值) 0.1Hz–10Hz |
---|---|---|---|
100 mV | 5 μV | 0.02% + 250 μV | 20 μV |
1 V | 50 μV | 0.02% + 400 μV | 50 μV |
6 V | 50 μV | 0.02% + 1.8 mV | 100 μV |
40 V | 500 μV | 0.02% + 12 mV | 500 μV |
温度系数 (0°–18°C & 28°–50°C)2:±(0.15 × 精度指标)/°C。
仅适用于普通模式,不适用于高电容模式。
大输出功率和源/宿极限3:每通道大40.4W。±40.4V@ ±1.0A,±6.06V@ ±3.0A,四项限源或宿操作。
电压调节:线:量程的 0.01%。负载:±(量程的0.01% + 100μV)。
噪声:10Hz~20MHz:<20mV 峰-峰值(典型值),<3mV RMS(典型值),6V量程。
电流极限/柔度4: 单值设置双极电流极限(柔度)。小值10nA。精度与电流源 相同。
过冲:典型值<±(0.1% + 10mV)。步进值=量程的10%~90%,电阻负载,大电流 极限/柔度。
保护偏移电压:典型值 < 4mV。电流 < 10mA。
电流源技术指标
电流编程精度
量程 | 编程分辨率 | 精度(1年) 23°C ±5°C ±(% rdg. + 安培数) | 典型噪声 (峰-峰值) 0.1Hz–10Hz |
100 nA | 2 pA | 0.06% +100 pA | 5 pA |
1 µA | 20 pA | 0.03% +800 pA | 25 pA |
10 µA | 200 pA | 0.03% + 5 nA | 60 pA |
100 µA | 2 nA | 0.03% + 60 nA | 3 nA |
1 mA | 20 nA | 0.03% +300 nA | 6 nA |
10 mA | 200 nA | 0.03% + 6 µA | 200 nA |
100 mA | 2 µA | 0.03% + 30 µA | 600 nA |
1 A 5 | 20 µA | 0.05% + 1.8mA | 70 µA |
3 A 5 | 20 µA | 0.06% + 4 mA | 150 µA |
10 A 5, 6 | 200 µA | 0.5% + 40 mA (典型值) |
温度系数 (0°–18°C & 28°–50°C)7:±(0.15 × 精度指标)/°C。
大输出功率和源/宿极限8:每通道大40.4W。±1.01A @ ±40.0V,±3.03A @ ±6.0V,四项限源或宿操作。
电流调节:线:量程的0.01%。负载:±(量程的0.01% + 100 pA)。
电压极限/柔度9: 单值设置双极电压极限(柔度)。小值10 mV。精度与电压源 相同。
过冲:典型值<±0.1%(步进值=量程的10%~90%,电阻负载;其他测试条件,参见 “电流源输出稳定时间”部分)。
其它电源技术指标
瞬态响应时间:当负载出现10%到90%的阶跃变化时输出恢复到0.1%的时间 <70μs。
电压源输出稳定时间:在固定量程上处理电源设置命令后达到终值0.1%所需的 时间。
100mV,1V量程:典型值<50μs
6V量程:典型值<100μs
40V量程10:典型值<150μs
电流源输出稳定时间:在固定量程上处理电源设置命令后达到终值0.1%所需的 时间。下列值适用于Iout × Rload = 1V,除非另行说明。
3A量程:典型值<80μs(电流小于2.5A,Rload >2Ω) 1A–10mA量程:典型值<80μs(Rload >6Ω)
1mA量程:典型值<100μs
100μA量程:典型值<150μs
10μA量程:典型值<500μs
1μA量程:典型值<2.5ms
100nA量程:典型值<25ms
直流浮动电压:输出电压可以从机架地电平高上浮到±250VDC。
远端检测工作范围11:
HI和SENSE HI之间的大电压=3V
LO和SENSE LO之间的大电压=3V
电压输出净空:
40V量程:大输出电压=42V – 电源引线上的总压降 (每条电源引线大1Ω)
6V量程:大输出电压=8V – 电源引线上的总压降 (每条电源引线大1Ω)
过温保护:内部检测温度过载时将设备置为待机模式。
电压源量程变化过冲:<300mV + 较大量程的0.1%(典型值)。过冲输入一个 100kΩ负载,20MHz带宽。
电流源量程变化过冲:<较大量程的5% + 300mV/Rload (典型值,源稳定时间 设置为SETTLE_SMOOTH_100NA)。其他测试条件,参见“电流源输出稳定时间” 部分。
注
1. 对于源精度指标的HI引线压降每伏要增加50μV。
2. 高电容模式精度仅适用于23°C±5°C。
3. 在30°C环境下,无论负载多大都是全电源工作。在30°C以上和/或电源宿工作模式下,可 参考2600B系列参考手册的“工作界限(Operating Boundaries)”部分,查询其它功率下 降信息。
4. 对于电源宿工作模式(第II和第IV象限),要在相应的电流极限精度指标上增加极*程的 0.06%。技术指标适用于支持的电源宿工作模式。
5. 在30°C环境下,无论负载多大都是全电源工作。在30°C以上和/或电源宿工作模式下,可 参考2600B系列参考手册的“工作界限(Operating Boundaries)”部分,查询其它功率下 降信息。
6. 10A量程仅适用于脉冲模式。
7. 高电容模式精度仅适用于23°C±5°C。
8. 在30°C环境下,无论负载多大都是全电源工作。在30°C以上和/或电源宿工作模式下,可 参考2600B系列参考手册的“工作界限(Operating Boundaries)”部分,查询其它功率下 降信息。
9. 对于电源宿工作模式(第II和第IV象限),要在相应的电压源指标上增加柔度量程的10%和 极限设定值的±0.02%。对于100mV量程,要额外增加60mV的不确定值。
10. 当在1A量程下测量时,要增加150μs。
11. 对于源精度指标的HI引线压降每伏要增加50μV。
脉冲技术指标
区域 | 大电流极限 | 大脉宽12 | 大占空比13 |
1 | 1 A @ 40 V | DC,无限制 | 100% |
1 | 3 A @ 6 V | DC,无限制 | 100% |
2 | 1.5A @ 40 V | 100ms | 25% |
3 | 5 A @ 35 V | 4 ms | 4% |
4 | 10 A @ 20 V | 1.8ms | 1% |
小可编程脉宽14,15:100μs。注:对于稳定电源在特定I/V输出端和负载上的 小脉宽可以大于100μs。
脉宽编 程分辨 率:1μs。
脉宽编 程精度 15:±5μs。
脉宽抖 动:2μs(典型值)。
订购信息
型号 | 通道 | 大电流源/量程 | 大电压源/量程 | 测量分辨率(电流/电压) | 电源 |
---|---|---|---|---|---|
2601B
| 1 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W |
2611B
| 1 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W |
2604B
| 2 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W |
2614B
| 2 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W |
2602B
| 2 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W |
2612B
| 2 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W |
2635B
| 1 | 10A | 200V | 0.1fA / 100nV | 200 W |
2634B
| 2 | 10A | 200V | 1fA / 100nV | 200 W |
2636B
| 2 | 10A | 200V | 0.1fA / 100nV | 200 W |
可选附件
线缆与接头
2600-BAN
香蕉测试导线/适配器线。用于单个260BA/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B SMU仪表通道
2600-KIT
特制螺旋端子接头,带预紧缓冲和恢复功能,用于单个数字源表通道(2601B/2611B附带一个,2602B/2604B/2612B/2614B附带2个)
2600-TRIAX
三轴适配器。用于单个2601B/2602B/2611B/2612B SMU通道
7078-TRX- *
3槽、低噪声三轴线。用于2600-TRIAX适配器
7078-TRX-GND
3槽公三轴线到BNC适配器(去掉保护层)
8606
高性能模块化探针套件。用于2600BBAN
数字I/O、触发器链接和TSP-Link
2600-TLIN K
数字I/O到TLINK适配器线,长1米
CA-126- 1
数字I/O和触发器线,长1.5米
CA-180-3 A
用于TSP-Link和直接以太网连接
的CAT5交叉线(附带2个)
GPIB接口和线缆
7007- 1
双屏蔽GPIB线,长1m(3.3ft)
7007- 2
双屏蔽GPIB线,长2m(6.6ft)
KPCI-488LP A
用于PCI总线的IEEE-488接口/控制器
开关
Series 37 00
DMM/开关系统
707B
半导体开关矩阵主机
机架安装套件
4299-1
支持面板和背板的单机架安装套件
4299-2
支持面板和背板的双机架安装套件
4299-5
1U通风板
软件
ACS-BASIC
元件特性分析软件
质保期延长情况
2601B-EW
2601B延长一年质保期
2602B-EW
2602B延长一年质保期
2604B-EW
2604B延长一年质保期
2611B-EW
2611B延长一年质保期
2612B-EW
2612B延长一年质保期
2614B-EW
2614B延长一年质保期
2634B-EW
2634B延长一年质保期
2635B-EW
2635B延长一年质保期
2636B-EW
2636B延长一年质保期
校准和验证
2600-STD-RES
用于2634B,2635B和2636B的校准标准 1GΩ电阻