实验简介：

光学系统像质评价工程上主要采用分辨率法和光学传递函数（MTF）测量法。分辨率法测量多用于大像差系统，实验简便直观；MTF测量法适用于一些高分辨率的光学系统。以上两种测量方法已广泛应用于工程实实践中。本实验参照《工程光学》教材中“光学系统的像质评价”相关知识点设计开发而成。

实验内容：

1、分辨率板直读法测量光学系统分辨率实验；

2、利用变频朗奇光栅测量光学系统MTF值实验；

3、基于线扩散函数测量光学系统MTF值实验。

主要设备参数：

1.平行光管组件：

光源：白光/三色LED，P>1W，亮度连续可调；

平行光管：D/F=1:8，L=550mm，f=400mm；

MTF目标物：线宽度10μm，精度1μm。

2. 测试组件：

变频朗奇光栅；美军标USAF1951分辨率板，分辨力1～228C/mm,精度1μm。

3. 机械组件：

精密光学导轨： L×W=1200mm×90mm，配套滑块、一维移动滑块、调节支座、支杆；高精度调节镜架，稳定性 <2′。

4. 光学组件：

光学透镜：Φ40mm，光洁度III级，f=150～300mm 。

5. 探测器组件：

数字CMOS相机：130万像素，像素大小5.2μm×5.2μm，usb2.0,A/D：10bit 。

6. 讲义及快速安装指南。

7. 软件组件：

相机标定模块，光学系统分辨测量模块，MTF计算模块。

选配设备参数：

1、仪器设备防尘罩：外形尺寸：1400mm×360mm×300mm；观察窗材料：亚克力透明挡板。

2、计算机（基本配置）。