彩色波形A-扫描超声波测厚仪UM-5
　　
　　如果你遇到了普通测厚仪不能解决的问题，请选择我们的UM-5，它能zui大限度的解决各种测厚难题，为您提供高性价比的解决方案。
　　
　　一、彩色波形A-扫描超声波测厚仪UM-5技术参数:
　
　　工作原理：使用双晶探头的超声波脉冲/回波法。测量范围：0.5至508毫米（0.02至20英寸）；取决于所用探头、材料、表面状况和温度。单位和显示分辨率:毫米-0.01，0.1；英寸-0.001，0.01。显示模式：厚度值模式；A扫描或波形模式；zui小/zui大值捕获模式；差值/减薄率模式。
　　
　　V路径修正：自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度。
　　
　　示值误差：±0.05mm（25mm以下）；
　　
　　±0.2%H（100mm以下）；
　　
　　±0.5%H（100mm以上）。注：H为被测物厚度
　　
　　重复性：±0.05mm。
　　
　　显示屏：320×240点阵，2.4寸真彩屏。
　　
　　测量速率：每秒4次测量。
　　
　　材料声速范围：500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us。
　　
　　质保期：2年。
　　
　　工作语言：中文。
　　
　　电源：两节1.5VAA电池。
　　
　　操作时间：两节5号电池，使用时间大于36小时。
　　
　　自动关机：5分钟无操作后自动关机。
　　
　　工作温度：-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃。
　　
　　尺寸：153mm×76mm×37mm（H×W×D）。
　　
　　重量：含电池280g。
　　
　　二、彩色波形A-扫描UM-5标准配置：
　　
　　测厚仪UM-5,标配探头,仪器箱,两节1.5V碱性电池,耦合剂,操作手册。
　　
　　三、彩色波形A-扫描UM-5可选附件：
　　
　　多种可供选择的探头；阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂。
　　
　　四、彩色波形A-扫描UM-5原理讲解:
　　
　　采用脉冲—回波法原理的普通需要满足以下两个条件才能成功测量：
　　
　　1.*底面回波要高于闸门（闸门电平高度是固定的不可调节）。
　　
　　2.*底面回波前没有其它杂波高于闸门（否则测出的将是产生杂波处的厚度）。
　　
　　有时许多情况无法满足上述要求，例如近表面高度腐蚀、粗晶材料（如铸铁）、铝材料、小直径管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料内部的不均匀、内含缺陷、叠片结构等等，普通将无能为力。
　　
　　五、彩色波形A-扫描UM-5可轻松解决上述问题：
　　
　　1.可以通过调整增益和闸门高度，使*底面回波高于闸门。
　　
　　2.可以通过消隐功能使*底面回波前的其它杂波无效。以前的棘手难题迎刃而解。
　　
　　实时彩色A-扫描（LiveColorA-Scan）:
　　
　　用户在屏幕上能直接看到彩色超声信号波型（或A扫描）,这对于需要验证厚度读数是否正确的场合是至关重要的。许多情况会引发错误的厚度读数甚至无读数，根据波形能轻松找到问题所在，然后根据波形仅需对增益（GAIN）、消隐（BLANKING）、闸门（GATE）这三个参数做适当调整，就可得到正确的厚度读数。
　　
　　波形的用处：根据波形验证厚度读数，根据波形找到问题所在，根据波形寻求解决之道，根据波形调整参数解决问题。
　　
　　增益调整（GAIN）：
　　
　　调整仪器对回波信号的放大倍数，允许以ldB为单位手动增加或减少。这个功能对声衰减材料（比如金属铸件）的测量是非常有效的。
　　
　　消隐功能（BLANKING）：
　　
　　使红色消隐条范围内的波形无效，可以略去影响测量的有害杂波，比如因材料表面粗糙或内部不均匀引起的噪声。
　　
　　闸门高度可调（GATE）：
　　
　　只有回波高于闸门时，仪器才认为接收到了回波，才会有测量值。可见闸门高度可调的重要性，尤其是在应对低回波信号的应用中更是如此（比如超薄板、超厚板的测量）。
　　
　　红色箭头：
　　
　　A-扫描模式有一个红色箭头指示测量点，厚度读数就是该点的横坐标。它可帮助判断厚度读数是否正确，正确测量时，红箭头应该指向*底面回波前沿。
　　
　　范围（RANGE）：
　　
　　调整显示在屏幕上的波形范围，视觉上波形被压缩或展开。如果没有正确的设置显示范围，回波波形可能出了显示区域而看不到，但仍能正确地显示测量值。
　　
　　平移（DELAY）：
　　
　　调整显示在屏幕上的波形的起始位置，视觉上波形被水平移动。如果没有正确的设置平移，回波波形可能出了显示区域而看不到，但仍能正确地显示测量值。范围和平移功能可将波形的任何一部分放大显示在屏幕上。
　　
　　整流方式:
　　
　　可选择射频、正半波、负半波、全波四种整流方式。射频：描绘了完整的回波波形；正半波：指去掉回波的负半波只显示正半波；负半波：指去掉回波的正半波而将负半波翻转显示为正；
　　
　　全波：指回波的正半波和翻转为正的负半波均显示。
　　
　　报警模式:
　　
　　可设置报警上限和报警下限。报警时波形和厚度值动态改变颜色。
　　
　　缩减率测量:
　　
　　仪器具有差值和缩减率模式。差值模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率是计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型应用是对因弯曲而变薄的金属材料进行测量。
　　
　　zui小/zui大值模式:
　　
　　该模式在屏幕上同时显示当前厚度值、zui小厚度值和zui大厚度值。可沿着工件表面拖动探头，仪器自动找出zui薄值和zui厚值。
　　
　　多种探头可选:
　　
　　仪器内置多种探头的V声程校正程序，分标准探头、小径管探头、微型探头、粗晶探头、高温探头，频率范围从2至10MHz，晶片尺寸从4至12mm。
　　
　　一般来说，探头频率越高而直径越小，越适合对较薄或弯曲工件的测量。