Micro-Epsilon WDS-300-P60-SR-I 传感器

mainSENSOR基于创新的测量原理，该原理是Micro-Epsilon开发的，目的是结合感应式传感器和磁性传感器的优点。在过程自动化，包装行业和机器监控中，磁感应传感器经常用作感应传感器和接近传感器的替代产品。传感器测量到固定在测量对象上的磁铁的距离，然后输出连续的线性输出信号。由于使用了不同强度的磁体，因此可实现20mm至55mm的测量范围。但是，为了适应测量范围，仅需更换磁体。

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Micro-Epsilon WDS-300-P60-SR-I 传感器

• 磁感应位移和距离测量
• 电感式传感器和接近传感器的理想替代品
• 线性输出信号，高基本灵敏度和温度稳定性
• 使用不同的磁体，可选的测量范围可达55mm
• 非接触式测量，使用寿命长
• 客户特定设计和大批量应用的理想选择
• mainSENSOR基于创新的测量原理，该原理是Micro-Epsilon开发的，目的是结合感应式传感器和磁性传感器的优点。在过程自动化，包装行业和机器监控中，磁感应传感器经常用作感应传感器和接近传感器的替代产品。传感器测量到固定在测量对象上的磁铁的距离，然后输出连续的线性输出信号。由于使用了不同强度的磁体，因此可实现20mm至55mm的测量范围。但是，为了适应测量范围，仅需更换磁体

  电容式传感器设计用于位移，距离和位置的非接触式测量，以及厚度测量。由于其高信号稳定性和分辨率，电容式位移传感器被用于实验室和工业测量任务。例如，在生产控制中，电容式传感器可测量薄膜厚度和粘合剂的施加。安装在机器中，它们监视位移和工具位置。

• 位移，距离和厚度以及在电导体和绝缘子上的非接触式测量
• 实验室和行业的准确性
• 客户特定的传感器和控制器
• 所有capaNCDT传感器，电缆和控制器都*兼容
• 全面的产品范围提供了广泛的应用可能性
• 新的控制器技术确保易用性就精确度和测量速率而言，Micro-Epsilon的激光线传感器是世界上性能高的轮廓传感器之一。他们检测，测量和评估不同对象表面上的轮廓。可用的型号适用于众多工业应用。传感器头中的集成智能功能（scanCONTROL SMART和gapCONTROL）可解决多种测量任务。集成商可以使用客户自己编程的模型。scanCONTROL和gapCONTROL传感器不需要任何外部控制器。

  optoCONTROL系统用于测量和监视任务。CLSK系列使用提供应用多功能性的光纤进行操作，也可以在恶劣的工业环境中使用。这些光纤传感器可实现广泛的应用，从监视目标对象的存在一直到识别间隙或检测纸幅边缘。

  optoCONTROL ThruBeam千分尺配有LED或激光，用于精确的直径，段和间隙测量。由于其高精度和测量速率，optoCONTROL千分尺主要用于需要高精度的应用中

  共焦彩色confocalDT测量系统用于快速距离和厚度测量。不同的传感器模型和控制器接口打开了广泛的应用域，例如在半导体行业，玻璃行业，医疗工程和塑料生产中。

• 高分辨率和高测量率的距离和厚度测量
• 自动化和生产控制的理想选择
• 几乎与表面无关，也适用于镜面和玻璃表面
• 极小的恒定光点尺寸
• 纳米分辨率
• 具有理想信噪比的工业级控制器
  无源测量系统光纤传感器捕获类似于人眼感知的颜色（TrueColor质量）。电子器件由控制器与多种光纤耦合组成，该控制器允许大目标距离达100毫米。仅将光纤的小*安装在目标附近。LT系列为各种应用提供基本和高级控制器。可以通过PC /串行接口和/或按钮对控制器进行编程。colorSENSOR OT是具有真彩色检测功能的固定镜头传感器。传感器用白光照射表面，并捕获并分析反射的颜色值。它们都共享相同的电子元件，并针对不同的挑战目标使用不同的光学元件。内部照明可以通过软件禁用，因此y也可以用于自发光目标用于测量LED，显示器和有色物体上的颜色和强度。另一个好处是小纤维可以灵活地定位到目标上。通过使用colorCONTROL MFA，可以同时监视多达100个测量点。Micro-Epsilon为金属行业提供创新的测量和检测系统。新技术用于厚度，轮廓和表面测量。性能和质量以及产品和服务的可靠性使Micro-Epsilon成为金属行业中用于光学厚度测量的检测系统的先供应商之一。在13个的铣削生产线和加工生产线中，无数成功的安装不言而喻