JW-BK224 分子筛比表面分析仪
精微高博是比表面积测定仪的厂商,精微高博比表面积测定仪一并荣获中国*测试证书,*及CE认证并且还有*的产品是通过**
精微高博分子筛比表面分析仪经*技术鉴定，控制精度和测试精度达到*水平，已在国内普遍应用。

产品特点与优势：
集比表面积、微孔及介孔多种测试功能于一体，全面的测试解决方案；
采用*真空泵，系统极限真空度达到4.0×10-2Pa，适合于*连续使用；
采用进口电容式薄膜压力传感器，量程宽，精度高、感应快、稳定性好；压力传感 器精度为0.15%（读值），比满量程标定的精度提高25倍，为zui高水平；
设有4个样品分析位，4个样品预处理位,测试系统与预处理系统可同时工作，互不干扰；预处理可在测试位进行，有利于保证样品表面的zui洁净状态；

产品功能：
比表面积测定：
单点和多点BET比表面
Langmuir比表面
t-plot法外表面积
t-plot法微孔总内表面积
BJH吸附累积总孔内表面积
BJH脱附累积总孔内表面积

孔体积测定：
单点总孔体积
BJH吸附累积总孔体积
BJH脱附累积总孔体积
t-plot法微孔总孔体积

平均孔径测定：
吸附平均孔径
BJH吸附平均孔径
BJH脱附平均孔径
zui可几孔径

孔径分布：
BJH吸附及脱附孔径微分分布（dV/Dr-D）和（dV/dlogD-D）
BJH吸附及脱附孔径积分分布（或累计分布）
MP法微孔孔径分布

性能指标：
测量范围：   比表面  ≥ 0.01M2/g, 无规定上限     孔径  0.35～400nm
重复精度：   ≤ ±2%
样品数量：   4个测量样品，4个预处理样品
样品类型：   粉末、颗粒、纤维、片状等材料
测试效率：   多点BET比表面每个样品10～15分钟
                          从吸附等温线测定孔径分布每个样品～100分钟
                          吸、脱附等温线测定及孔径分布每个样品～3.5小时
吸附气体：   除氮气（高纯N2）外，根据需要还可用Ar、Kr、CO2 等
氮气分压：   P/Po  0.0001～0.995， zui小可分辨相对压力为 5×10-5
极限真空度： 4.0×10-2Pa
压力精度：  ≤ ±0.15% （P.S）

静态容量法比表面测试仪特点之真密度测试：
技术参数：
     JW-BK系列静态容量法比表面及孔径分析仪，适用于各种粉体材料、固体材料等的真密度分析，*的高精度真密度测试功能，测试时间不超过3分钟/次，连续测试次数用户可以自行定义，zui高次数可达10次。
★ 重复性：± 0.015 %；
★ 精确度：± 0.02 %；
★ 测试分辨率：0.00001 g/cm3