产品详细介绍：

LP-40PY 表面检查灯是美国路阳针对半导体行业的推出的高强度黄绿光检查灯。精密物的表面污渍、刮伤及异物是产生不良品的z-ui大原因。专为此设计的LP-40PY 表面检查灯采用人眼z-ui敏感的光线来做z-ui简单与明确的判别，可精-确检查到10um以下的刮痕或微粒子，大大降低产品不良率。

仪器应用： 

LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、 玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查

特点：

 快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒

 有效地探测出生产过程是早期的污物，节省生产时间及不必要的成本。

 独-有的高强度灯泡发出546,577及579nm波长光谱

  特制的黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线，防止产生荧光干扰。

 特殊波长，主波长为546、578 nm知黃绿光且不伤人眼

 由于人眼对黃绿光的高敏感度，可精-确检查到10um以下的刮痕或微粒子

 采用桌夹式固定,可任意调整照射角度

 采用电子点灯方式，操作简单

 聚光照射，亮度高，效果佳

 可在无尘室使用

技术参数：