Sartorius赛多利斯研究测试量程质量比较仪

CC/CCESartorius赛多利斯研究测试量程质量比较仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-05-09 19:30:02
7
产品属性
关闭
桂宁（上海）实验器材有限公司

桂宁（上海）实验器材有限公司

初级会员第1年
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

持续、全量程电子自动测量
● *的MC1微处理器技术

详细介绍

术参数：

型号 量程（g） 可读性（mg） 典型重复性 (mg) 
CC64K 64 0.05 0.1 
CC150K 151 0.01 0.2 
CC300K 303 1 0.5 
CCS600K 605 1 2 
CCT1000K 1210 1 2 
CCS1000K 1510 5 5 
CCS3000K 3010 10 10



主要特点：

● 7种型号 
● 持续、全量程电子自动测量 
● *的MC1微处理器技术

上一篇：电子天平结构原理 下一篇：1T铸铁砝码的技术标准介绍
提示

请选择您要拨打的电话：

24013 [{"ID":"747768","CompanyID":"48414","Title":"电子天平结构原理","Picture":"","PictureDomain":"","UpdateTime":"2024/9/28 7:55:43","CreateTime":"2024/9/28 7:55:43","ClassName":"技术交流","rn":"3"},{"ID":"744725","CompanyID":"74496","Title":"1T铸铁砝码的技术标准介绍","Picture":"","PictureDomain":"","UpdateTime":"2024/9/9 7:12:09","CreateTime":"2024/9/9 7:12:09","ClassName":"技术交流","rn":"4"}]