变频介质损耗 介损测试仪技术测试

变频介质损耗 介损测试仪技术测试

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具体成交价以合同协议为准
2022-05-09 19:30:02
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扬州豪泰电力科技有限公司

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产品简介

变频介质损耗 介损测试仪技术测试带计算机接口。通过该接口,实现测量、数据处理和报表输出,也可实现仪器内部测量软件升级。可集成到综合高压试验车上。

详细介绍

技术指标

准确度: Cx: ±(读数×1%+1pF)

tgδ:

±(读数×1%+0.00040)

抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度

变频介质损耗 介损测试仪技术测试电容量范围: 内施高压: 3pF~60000pF/10kV

60pF~1μF/0.5kV


外施高压: 3pF~1.5μF/10kV

60pF~30μF/0.5kV


分辨率: 0.001pF,4位有效数字


tgδ范围: 不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。

变频介质损耗 介损测试仪技术测试试验电流范围:10μA~5A

内施高压: 设定电压范围:0.5~10kV

输出电流:200mA

升降压方式: 连续平滑调节

电压精度: ±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率: 1V

试验频率: 45、50、55、60、65Hz单频

5/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频

频率精度: ±0.01Hz

外施高压: 正接线时试验电流1A,工频或变频40-70Hz

反接线时试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz

CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A

测量时间: 约40s,与测量方式有关

输入电源: 180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市电或发电机供电

计算机接口: 标准RS232接口

打印机: 炜煌A7热敏微型打印机

环境温度: -10℃~50℃

相对湿度: <90%


功能特点

变频抗干扰

采用变频抗干扰技术,在200%干扰下仍能准确测量,测试数据稳定,适合在现场做抗干扰介损试验。


高精度测量

采用数字波形分析和电桥自校准等技术,配合高精度三端标准电容器,实现高精度介损测量。

仪器所有量程输入电阻低于2Ω,消除了测量电缆附加电容的影响。

多级安全保护,确保人身和设备安全

高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能以短路方式高速切断输出。

低压保护:误接380V、电源波动或突然断电,启动保护,不会引起过电压。

接地保护:仪器接地不良使外壳带危险电压时,启动接地保护。

C V T:高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限,不会损坏设备;误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。

防误操作:两级电源开关;电压、电流实时监示;多次按键确认;接线端子高/低压分明;缓速升压,可迅速降压,声光报警。

防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。

抗震性能:仪器采用*抗震设计,可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。

高压电缆:为耐高压绝缘导线,可拖地使用。


功能强大,产品系列化

(1)具有正/反接线,内/外标准电容,内/外高压多种工作模式,一体化结构,可做各种常规介损试验,不需外接任何辅助设备。

(2)液晶显示,菜单操作,测试数据丰富,自动分辨电容、电感、电阻型试品,自带微型打印机可打印输出。

(3)具有外接标准电容器接口,可外接油杯做精密绝缘油介损试验,可外接固体材料测量电极做精密绝缘材料介损试验,也可外接高压标准电容器做高电压介损试验。

(4)自动识别50Hz

/ 60Hz系统电源,并支持发电机供电,即使频率波动大,也可正常测量。

(5)内置串联和并联两种介损测量模型,方便仪器检定。

(6)可存储255组测量数据。

(7)CVT自激法测量时,C1/C2可一次接线同时测出,自动补偿母线接地和标准电容器的分压影响,无须换线和外接任何配件。

(8)中文图文菜单,大屏幕背光LCD显示更清晰,电流电压实时监视。

(9)优化的电路设计,使正/反接线的准确度和稳定性*。

(10)自动识别外接高压试验电源频率40Hz~70Hz,支持工频电源、变频电源和串联谐振电源做大容量高电压介损试验。

(11)具有反接线低压屏蔽功能,在220kVCVT母线接地情况下,对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。

(12)带计算机接口。通过该接口,实现测量、数据处理和报表输出,也可实现仪器内部测量软件升级。可集成到综合高压试验车上。

(13)配置热敏打印机,使打印更加快捷、无噪音和清晰。

(14)增加回路接触不良放电提示功能,以方便判别接线是否可靠。

(15)增强反接线低压屏蔽功能,可一次接线同时测出两个电容的电容量和介损值。

(16)增加CVT变比功能,可测量CVT变比和相位误差。

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