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日本日置HIOKI 存储记录仪MR6000
面议固纬GWINSTEK泄漏电流测试仪GLC-9000
面议固纬GWINSTEK交流接地阻抗测试仪GCT-9040
面议固纬GWINSTEK安规测试仪GPT-9600系列
面议固纬GWINSTEK安规测试仪GPT-9900系列
面议日本日置HIOKI 电池测试仪BT3563
面议日本日置HIOKI 电池测试仪BT3562
面议日本日置HIOKI 电池测试仪3561
面议日本日置HIOKI 安规测试仪3153
面议日本日置HIOKI 安规测试仪3159-02
面议日本日置HIOKI AC自动绝缘耐压测试仪3174
面议日本日置HIOKI 电阻测试仪ST5520/ST5520-01
面议日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523产品详细信息
日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523的面板保存功能更,樶多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
★ 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
★ 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
★ 内置比较器和BIN功能
★ 2ms的快速测试时间
测量模式 | LCR,连续测试 |
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测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
测量量程 | 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为樶高分辩率时的显示位数) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999) Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%) |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
测量频率 | 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
测量信号电平 | 正常模式 V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA~50mArms,10μArms |
输出阻抗 | 正常模式:100Ω |
显示 | 单色LCD |
测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能 |
接口 | EXT I/O(处理器),USB通信(高速) 选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一 |
电源 | 100~240V AC,50/60Hz,樶大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |