菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪

菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-05-09 11:30:02
22
产品属性
关闭
苏州英莳特仪器科技有限公司

苏州英莳特仪器科技有限公司

初级会员1
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪,X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析,FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精

详细介绍

菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪

X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。

XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时,样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点,可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统,简化了样品放置的过程,并可对测量点位置进行精确微调。

所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。

菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪

XDV-SDD多可同时测定从铝(13)到铀(92)中的24 种元素

测量门向上开启的台式仪器,侧面开槽设计

马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台 

马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

 

仪器配备带铍窗口的微聚焦钨管,三挡可调节高压,6个可切换的基本滤片。

 

可按要求,提供额外的XDV 型产品更改和XDV 仪器技术咨询

上一篇:超声波测厚仪的使用及方法 下一篇:非破坏性鸡蛋厚度检测仪-超声波测厚仪简介
提示

请选择您要拨打的电话:

23936 [{"ID":"752533","CompanyID":"63353","Title":"超声波测厚仪的使用及方法","Picture":"mt0004/3/20101222/634286315046562500.jpg","PictureDomain":"img45","UpdateTime":"2024/10/29 7:57:08","CreateTime":"2024/10/29 7:57:08","ClassName":"技术交流","rn":"3"},{"ID":"752089","CompanyID":"47902","Title":"非破坏性鸡蛋厚度检测仪-超声波测厚仪简介","Picture":"","PictureDomain":"","UpdateTime":"2024/10/26 7:42:15","CreateTime":"2024/10/26 7:42:15","ClassName":"技术交流","rn":"4"}]