Tracer III-SD system
Tracer系列是用于研究的产品系列，旨在给用户提供zui灵活的测量条件,并且能够创建和修改校准。 X射线荧光光谱仪作为无损的元素检测设备，应用于考古发掘，文物及艺术品保护等领域已有五十多年的历史。

  对于一些考古发掘出土物、历史文物以及艺术品的来源及结构鉴定，首先需要了解它的元素组成。特别是在鉴别某些艺术品是真品还是赝品时，河南手持式考古分析仪元素分析往往具有非常重要的意义。

  直到zui近，功能强大的手持式设备的技术发展，才使得这项非破坏性检测技术在该领域得以充分应用。由于可应用于各种现场的分析工作，元素分析也被越来越多的文物保护工作者所接受。同时，手持荧光光谱仪在检测对象上也有了*的拓展。

 德国Bruker公司的TRACER III-SD手持式XRF河南手持式考古分析仪设备也成为这一领域中*的科研利器。

技术特点：

• 手持式，轻小，便携
• 手提式电脑分析软件
• 自定义滤波器与二级靶材，可优化分析
• 实时图谱显示
• XFlash®SDD技术，分析速度迅速，可测量Mg-Cl之间的轻元素，无需真空泵和氦气保护
• 与NASA合作研发的真空技术对轻元素测量十分敏感。

Tracer-III艺术与考古分析仪轻松鉴别陶器，油画，影印制品，玻璃制品，黑曜石，青铜及铜合金真伪和年代，对文物的修复也起了至关重要的推动作用。
诸如古代保存下来的纸质、陶瓷、壁画类文物，因时间久远发生的霉变、粉化脆断、糟朽破碎、污迹，破损等都急需尽快修复。通过使用手持式X荧光光谱仪，确定物质的成份，找到相同或相近的材料进行修复。