手持式XRF矿物元素分析仪可分析的元素： Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等种元素；

手持式XRF矿物元素分析仪地质化学痕量测定：
痕量元素
矿石探途元素
土壤或沉积层中的污染物
修复检查
催化转化器
手持式XRF矿物元素分析仪地质化学常量测定：
主要和微量元素
含金属矿石
工业矿物
精矿
铝土矿

手持式XRF矿物元素分析仪校准：
元素范围：多可达45种元素，包括镁、铝、硅、磷和硫
通过标准样品，进行多重特定基质校准
配备Bruker的连续自动增益校准（CAGC），需现场增益检查

手持式XRF矿物元素分析仪样品制备：
可直接测量岩石表面，但是这类样品质地不均匀，需要大量的数据采集才可实现有效的量化分析。反之，采用质地均匀的样品（如磨细的粉末）能够获得更精确的分析结果。
理想的解决方案是，把材料研磨成足够细的粉末，压制或轻巧成可复制、致密的样品。现场可使用多种辅助研磨工具，直接从岩石表面手机粉末，或者把样品“捶打”成所要求的粉末，再将粉末压制成颗粒状，即可使用S1TITAN进行分析。

手持式XRF矿物元素分析仪环境条件：

防护等级IP54：手持式XRF矿物元素分析仪在设计上课承受所有环境的县长操作，包括潮湿及多尘的环境条件
密封式设计可防水防尘
采用橡胶模造，经久耐用
可防止污染物及风沙侵入
样本立架可用于测量小型及复杂样本
操作温度：-10℃至+50℃
样本温度（间歇性使用）：150℃用于Ultralene窗口，500℃用于Kapton窗口