夏比冲击试样缺口测量方法

对于夏比冲击V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（GB/T229-2007试样缺口深2mm±0.075、45°角±2°且试样缺口底部半径要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23试样缺口深2mm±0.025、45°角±1°且试样缺口底部半径要求R0.25±0.025mm）、缺口对称面-试样纵轴角度（标准要求90°±2°）等，故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口底部半径微小变化（其公差只有0.025mm），都会引起试验结果的偏差，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比冲击V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。用光学测量检查是切实可行并能保证检查质量的方法。TOP-IG是我公司根据GB/229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》、ASTM E23中对夏比冲击试样缺口的要求与广大用户的实际需求而设计、开发的一种于检查夏比冲击V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学测量仪器。

夏比冲击试样缺口测量方法