太阳能电池硅片测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性，适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量,也称为电池硅片厚度测量仪、硅片厚度仪等。

与其他测厚仪先比，本厚度测量仪具备匠心设计，体现在以下几点：
1.测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量
2.可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制
3.测量支架采用具有高吸振特性、受温度变化极小的球墨铸铁一体成形，有效减轻了外界震动、温度变化对测试产生的影响
4.进口采样芯片，有效保证测试准确性与实时性

太阳能电池硅片测厚仪THK-01主要参数：
通用名称：测厚仪
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配） 
分辨率：0.1μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；
                薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg