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涂层测厚仪符合标准：
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
涂层测厚仪产品特点：
◆采用密闭金属外壳，经久耐用，有效防止油污，提高仪器使用寿命；
◆CTG260高精度(通讯多用型）采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
◆可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
◆具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
◆具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)；
◆设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
◆可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
◆具有存贮功能：可存贮495个测量值；
◆具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
◆可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；
◆具有电源欠压指示功能；
◆操作过程有蜂鸣声提示；
◆具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
◆设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
探头技术参数表
测头型号 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |||
工作原理 | 磁感应 | 电涡流 | |||||||
测量范围（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(铜上镀铬0-40um) | 10-200 | ||||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||||
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||||
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||||
测量条件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 | ||
基体zui小面积的直径(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |||
zui小临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 无限制 | |||
测头选用参考表
覆盖层 | 有机材料等非磁性覆盖层 (如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等) | |||
基体 | 覆盖层厚度不超过100µm | 覆盖层厚度超过100µm | 覆盖层厚度不超过100µm | 覆盖层厚度超过100µm | |
如 铁、钢 | 被测面积的直径大于30mm | F400 型测头 0～400µm | F1 型测头 0～1250µm | F400 型测头 0～400µm | F1 型测头 0～1250µm |
等磁性金属 | F1 型测头 0～1250µm | F10 型测头 0～10mm | F1 型测头 0～1250µm | F10 型测头 0～10mm | |
被测面积的直径小于30mm | F400 型测头 0～400µm | F400 型测头 0～400µm | F400 型测头 0～400µm | F400 型测头 0～400µm | |
F1 型测头 0～1250µm | F1 型测头 0～1250µm | ||||
如铜 、铝 、 | 被测面积的直径大于5mm | N1 型测头 0～1250µm | 仅用于铜上镀铬N1 型测头 0～40µm | ||
黄铜 、锌 、锡 | |||||
等 有色金属 | |||||
塑料、印刷线路非金属基体 | 被测面积的直径大于7mm | - | - | CN02 型测头10～200µm | |
基本配置：
CTG260主机 1台
F1或N1测头 1支
校准标准片 1套（含试片5片，基体1块）
电池 2节
通讯电缆 1根
通讯软件 1张
手提密码箱 1个
随机文件 1套（合格证，保修卡，说明书等）
