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X射线探测器 的详细介绍
高耦合效率，降低设备X光源的投入
影像不失真，让系统软件变得更简单
采用光纤锥耦合的，zui大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单。
此相机广泛的应用于工业无损检测，如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。
BGA检查 IC焊脚检查 二管质量检查 金线检查
产品规格：
标准产品有以下三个型号，根据X光源不同，要求分辨率以及目标物的厚度不同，有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供*的解决方案。
产品型号 | HR-25-X-Ray | HR-40-X-Ray | HR-75-X-Ray |
CCD芯片 | 2/3’’芯片，752*582 | 2/3’’芯片，1392*1040 | 1.2’’芯片，2048*2048 |
像素尺寸 | 11.6um*11.2um | 6.45um*6.45um | 7.4um*7.4um |
输出格式 | 标准CCIR模拟型号输出 | 8bit或12bit数字信号输出 | 8bit或12bit数字信号输出 |
帧速 | 视频速度 | 17帧或30帧 | 15帧 |
计算机接口 | 无 | 1394或以太网接口 | 以太网接口 |
视场 | 20mm*15mm（其它可选） | 32mm*24mm（其它可选） | 45um*45um |
荧光屏镀膜 | P43（其它可选） | P43（其它可选） | P43（其它可选） |
X光响应范围 | 20kev-100kev | 20kev-100kev | 20kev-100kev |
入射光窗 | 0.5mm厚铝膜（其它可选） | 0.5mm厚铝膜（其它可选） | 0.5mm厚铝膜（其它可选） |
分辨率 | 50um | ≤50um，10lp/mm | ≤50um,11 lp/mm |
HR-75-X-Ray
400万像素高分辨率；选用75:25的光纤锥耦合，视野可达到45mm X 45mm.
HR-40-X-Ray
140万像素高分辨率；选用40:11的光纤锥耦合，视野可达到32mm X 24mm.
HR-25-X-Ray
体积小巧，直径仅55mm,长68mm,易于安装；分辨率高；动态范围好。
量子效率曲线图
（P43荧光屏（25mg/cm2）, 厚度：55um）
定制产品：
我们可根据客户的需求定制X-Ray相机
应用领域
医学成像设备：
工业检测设备：
安防设备：
