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日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的特点:
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的技术参数:
测定方法 | 电磁式及高频涡流式 |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 电磁式:0~1500um或0~60.0mils |
高频式:0~800um或0~32.0mils | |
测定精度 | 电磁式:<15um±0.3um >15um±2% |
高频式:<50um±1um >50um±2% | |
分辨率 | <100um 0.1um >100um 1um |
界限设定 | 可设定上/下限数值 |
测试单位 | 公/英制互换 |
显示方式 | LCD数显 |
操作面板 | 密封防水按键 |
附属品 | 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
电源 | DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 |
体积 | 80(W)×80(D)×30(H) |
重量 | 1100g |