薄膜自动测厚仪一种适用于0-2mm(其他量程可定制)的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量的仪器.

     主要参数：
     仪器型号：CHY-U
     测量范围:0-2mm （其他量程可定制）
     分辨率 :0.1um
     测量速度:10 次/分（可调）
     测量压力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
     接触面积:50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种
     进样步矩:0 ～ 1300 mm(可调)
     进样速度 :0 ～ 120 mm/s(可调)
     外形尺寸:450mm×340mm×390mm
     重量:23kg

     应用范围：
     薄膜自动测厚仪主要对薄膜、铝箔、太阳能硅片、纸张纸板的厚度测量等，具体内容如下：

     （1）用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度精确测量。

      （2）对金属箔片等硬质材料厚度精确测量。

      （3）接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值

      （4）通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张、纸板材料厚度测试。

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